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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| RECONF | 2012-05-29 15:10 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 単一FPGA内における三重冗長モジュールの動的再配置によるハードエラー回避手法 ○田中宏樹・一ノ宮佳裕・宇佐川貞幹・尼崎太樹・飯田全広・久我守弘・末吉敏則（熊本大）  RECONF2012-11 |
FPGAはハードエラー箇所を避けて再構成することでハードエラーから復旧することができる．特に部分再構成を用いることで動的... [more] | RECONF2012-11 pp.61-66 |
| ICD, SDM (共催) |
2010-08-27 13:45 |
北海道 | 札幌エルプラザ内男女共同参画センター | プロセス工程後の局所的電子注入による非対称パスゲートトランジスタを有する6トランジスタ型SRAMとその読み出し時安定性の向上 ○宮地幸祐・田中丸周平・本田健太郎（東大）・宮野信治（半導体理工学研究センター）・竹内 健（東大） SDM2010-145 ICD2010-60 |
本論文ではプロセス後にSRAMセルのパスゲートトランジスタの記憶保持ノード側の接合端付近の絶縁膜中に電子を局所的に注入す... [more] | SDM2010-145 ICD2010-60 pp.115-120 |
| SDM | 2010-06-22 15:15 |
東京 | 東京大学（生産研An棟） | 作製後における電子局在注入による非対称パスゲートトランジスタ及びしきい値圧ばらつき自己修復機能を有する6トランジスタ型SRAMとその読み出し時安定性の向上 ○宮地幸祐・田中丸周平・本田健太郎（東大）・宮野信治（半導体理工学研究センター）・竹内 健（東大） SDM2010-44 |
本論文ではSRAMセルの安定性を自己修復するように一方のパスゲートトランジスタのゲート絶縁膜中に局所的に電子を注入するこ... [more] | SDM2010-44 pp.61-65 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-28 16:10 |
福岡 | 北九州国際会議場 | メモリコアに対する組込み自己修復を考慮したSoCのテストスケジューリング ○福田雄介・米田友和・藤原秀雄（奈良先端大） |
本研究では，システムオンチップに搭載されている組込み自己修復機能を持つメモリコアに対する消費電力制約下でのテストスケジュ... [more] | VLD2006-61 DC2006-48 pp.59-64 |
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