Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2010-8
C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法
○岩田大志・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）
pp. 1 - 6
DC2010-9
スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察
○岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 7 - 11
DC2010-10
ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法
○吉川祐樹・丸谷 瞬・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 13 - 18
DC2010-11
ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法
○陳 贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 19 - 24
DC2010-12
実チップデバッグ手法における観測回路の挿入箇所および面積に関する一検討
○新井雅之・田畑嘉裕・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 25 - 30
DC2010-13
製造後デバッグのための入出力シーケンススライシング手法
○李 蓮福・松本剛史・藤田昌宏（東大）
pp. 31 - 36
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．