電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 110, Number 350

機構デバイス

開催日 2010-12-17 / 発行日 2010-12-10

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目次

EMD2010-129
炭素電極開離アーク継続時間 ~ 開離速度約0.9 m/sの場合の計算値と測定値の比較 ~
○須原啓一(東京高専)
pp. 1 - 4

EMD2010-130
銅箔の直接電磁圧接(第2報)
○相沢友勝・松澤和夫・岡川啓悟(都立産技高専)
pp. 5 - 10

EMD2010-131
非対称な電気接点対の寿命と信頼性に関する一検討
○宮永和明・萓野良樹・井上 浩(秋田大)
pp. 11 - 16

EMD2010-132
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について (14) ~
○和田真一・サインダー ノロブリン・越田圭治・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
pp. 17 - 22

EMD2010-133
定印加力を有するタッピングデバイスを用いた高周波同軸コネクタの振動特性評価
○富菜将基・石橋大二郎・久我宣裕(横浜国大)
pp. 23 - 27

EMD2010-134
相互変調ひずみ源の消費電力から見た整合法・不整合法PIM測定の相関に関する考察
○吉田 翔・石橋大二郎・久我宣裕(横浜国大)
pp. 29 - 34

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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