電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 110, Number 403

機構デバイス

開催日 2011-01-28 / 発行日 2011-01-21

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目次

EMD2010-135
炭素アーク電圧電流特性に関する一考察
○須原啓一(東京高専)
pp. 1 - 4

EMD2010-136
錫めっき摺動接点の三次元微細構造
○伊藤哲也・荻原 茂・服部康弘(オートネットワーク技研)
pp. 5 - 10

EMD2010-137
錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
○増井壮志・澤田 滋・玉井輝雄(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)・飯田和生(三重大)
pp. 11 - 16

EMD2010-138
錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性
○田井富茂・古本哲也(日本航空電子)
pp. 17 - 21

EMD2010-139
同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究
○蒲 和也・川島 信(中部大)・川端俊介(伊原電子)・佐生誠司(旭化成イーマテリアルズ)
pp. 23 - 27

EMD2010-140
印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果
○大谷泰之・中島伸一郎(日本航空電子)
pp. 29 - 34

EMD2010-141
タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~
○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
pp. 35 - 40

EMD2010-142
タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(2) ~
○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
pp. 41 - 46

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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