電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 112, Number 144

機構デバイス

開催日 2012-07-20 / 発行日 2012-07-13

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目次

EMD2012-16
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構の特性に関する基礎的検討(23) ~
○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・竹田弘毅・益田直樹・柳 国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(日本工大)
pp. 1 - 6

EMD2012-17
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗変動のモデリング(24) ~
○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(日本工大)
pp. 7 - 12

EMD2012-18
壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し
○小野 仁・関川純哉(静岡大)
pp. 13 - 18

EMD2012-19
電磁圧接された試料板の電気抵抗測定
○椛沢栄基・岡川啓悟・石橋正基・相沢友勝(都立産技高専)
pp. 19 - 24

EMD2012-20
電磁圧接による導電接続用アルミニウムおよび銅薄板の並列シーム溶接
○相沢友勝・松澤和夫・岡川啓悟(都立産技高専)
pp. 25 - 30

EMD2012-21
放射妨害波のGHz超測定におけるBore Sighting Methodとその簡略化に関する検討
○峯松育弥(KEC関西電子工業振興センター)・堀内達朗(ローランド)・北田浩志(村田製作所)・吉原 勝(リケン環境システム)・梶田幸央(北川工業)・中村哲也(東陽テクニカ)・和田修己(京大)・二宮 寿(ローランド)
pp. 31 - 36

EMD2012-22
SO-DIMM評価モデルを用いたキットモジュールレベルと放射電界強度レベルの相関性の検討
○桑原伸夫(九工大)・遠矢弘和(アイキャスト)・村松秀則(VCCI協会)・森 健吾(オー・アイ・データ機器)・島先敏貴(NECエンジニアリング)
pp. 37 - 42

EMD2012-23
Energy-based analysis of electrostatic discharge current -- Assessment of high oscillations in ESD waveform --
○Masao Masugi(Ritsumeikan Univ.)・Norihito Hirasawa・Yoshiharu Akiyama(NTT)・Kazuo Murakawa(NTT east)
pp. 43 - 46

EMD2012-24
SAR Evaluation of Capsule Endoscope with Spatial Diversity Reception
○Daisuke Anzai・Sho Aoyama・Masafumi Yamanaka・Jianqing Wang(Nagoya Inst. of Tech.)
pp. 47 - 52

EMD2012-25
[特別講演]電波の生体影響試験用ばく露装置の研究
○王 建青(名工大)
pp. 53 - 56

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


IEICE / 電子情報通信学会