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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2011年度)
「from:2011-06-24 to:2011-06-24」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2011-06-24 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察 福本 聡・○新井雅之・原 慎哉・岩崎一彦（首都大東京）  DC2011-8 |
本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率の分布について解析する． 各故障に関する検出と未検出の事象を，それぞ... [more] |
DC2011-8 pp.1-4 |
| DC | 2011-06-24 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について ○深澤祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2011-9 |
組込み自己テスト(BIST)手法において，筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案し... [more] | DC2011-9 pp.5-10 |
| DC | 2011-06-24 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-10 |
近年，製造テストで正常VLSIと判定されるが，出荷後の使用環境で経年劣化の結果，出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more] | DC2011-10 pp.11-16 |
| DC | 2011-06-24 14:40 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］国際会議報告：VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium) ○畠山一実（奈良先端大） DC2011-11 |
2011年5月に米国カリフォルニア州デイナポイントで開催された第29回VLSIテストシンポジウム(VTS2011)につい... [more] | DC2011-11 pp.17-22 |
| DC | 2011-06-24 15:50 |
東京 | 機械振興会館 | ケアビット分布制御ドントケア抽出 ～ キャプチャ消費電力削減への適用 ～ ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-12 |
近年VLSI の大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化，テスト時の過剰な消費電力による誤テス... [more] | DC2011-12 pp.23-28 |
| DC | 2011-06-24 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト ○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm） DC2011-13 |
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する．本稿では，X判定技術とX割当技術を... [more] | DC2011-13 pp.29-34 |
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