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ディペンダブルコンピューティング研究会（DC） [schedule] [select]
専門委員長 米田 友洋 (NII)
副委員長 梶原 誠司 (九工大)
幹事 北神 正人 (千葉大)， 中村 友洋 (日立)

日時 2011年 6月24日(金)　13:00 - 16:50
議題 設計／テスト／検証 
会場名 機械振興会館地下3階2号室 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 東京メトロ日比谷線「神谷町」駅下車徒歩約７分，都営大江戸線「赤羽橋」駅下車徒歩約８分，都営三田線「御成門」駅下車徒歩約10分，都営浅草線「大門」駅下車徒歩約15分．
http://www.jspmi.or.jp/mapright.htm
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
査読に
ついて		 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．

6月24日(金) 午後 
13:00 - 14:30
(1) 13:00-13:30 ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察 DC2011-8 福本　聡・○新井雅之・原　慎哉・岩崎一彦（首都大東京）
(2) 13:30-14:00 テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について DC2011-9 ○深澤祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）
(3) 14:00-14:30 VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察 DC2011-10 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
  14:30-14:40 休憩　（ 10分 ）
6月24日(金) 午後 
14:40 - 15:40
(4) 14:40-15:40 ［招待講演］国際会議報告：VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium) DC2011-11 ○畠山一実（奈良先端大）
  15:40-15:50 休憩　（ 10分 ）
6月24日(金) 午後 
15:50 - 16:50
(5) 15:50-16:20 ケアビット分布制御ドントケア抽出 ～ キャプチャ消費電力削減への適用 ～ DC2011-12 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
(6) 16:20-16:50 テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト DC2011-13 ○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温　暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 10 分
招待講演発表 50 分 ＋ 質疑応答 10 分

問合先と今後の予定
DC ディペンダブルコンピューティング研究会（DC）   [今後の予定はこちら]
問合先 北神正人
〒263-8522 千葉市稲毛区弥生町1－33
千葉大学大学院融合科学研究科
TEL/FAX 043-290-3254
E--mail:fultyba-u 
お知らせ ◎最新情報は，DC研究会ホームページを御覧下さい．
http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/index.html


Last modified: 2011-04-15 23:18:06


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