日時	2025年 2月18日(火)　10:30 - 16:30 [変更あり]
議題	VLSI設計とテストおよび一般
会場名	機械振興会館
住所	〒105-0011 東京都港区芝公園３−５−８
交通案内	東京メトロ日比谷線神谷町駅下車徒歩8分、都営地下鉄三田線御成門駅下車徒歩8分、 都営地下鉄大江戸線赤羽橋駅下車徒歩10分、都営地下鉄浅草線, 大江戸線大門駅下車徒歩10分、ＪＲ山手線・京浜東北線浜松町駅下車徒歩15分 http://www.jspmi.or.jp/kaigishitsu/access.html
会場世話人 連絡先	細川 利典、市原 英行（E-: n-u，i-cu）
著作権に ついて	以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
参加費に ついて	この開催は「技報完全電子化」研究会です．参加費（DC研究会）についてはこちらをご覧ください．

2月18日(火) 午前  論理関数処理技術応用・アルゴリズム 座長: 市原英行（広島市大） 10:30 - 11:45
(1)	10:30-10:55	領域ベースの手法およびTurn Modelに基づくメッシュ網の耐故障適応ルーティングアルゴリズム DC2024-106	○三浦康之・深瀬尚久（湘南工科大）・中尾司ピエール（北陸先端大） [変更あり]
(2)	10:55-11:20	制御信号のドントケア割当てに基づく診断容易化設計のためのヒューリスティックアルゴリズム DC2024-107	○大塚裕衣・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・吉村正義（京都産大）
(3)	11:20-11:45	2分決定グラフを用いた確率フォールトツリー解析における変数順序付けによる性能への影響の評価 DC2024-108	○宇都宮壮一・土屋達弘（阪大）
	-	休憩
2月18日(火) 午後  ニューラルネットワークを用いたテスト及び故障解析技術 座長: 細川利典（日大） 13:15 - 14:30
(4)	13:15-13:40	Reliable Memristor-Based Neural Networks with Fault-Injected Training DC2024-109	○Md. Sihabul Islam・Ryota Eguchi・Michiko Inoue（NAIST）
(5)	13:40-14:05	深層強化学習を用いたテストポイント挿入法に対する特徴解析 DC2024-110	○佐々木翔也・井手秋孝・王　森レイ・甲斐　博・高橋　寛（愛媛大） [変更あり]
(6)	14:05-14:30	ウェハマップ欠陥パターン分類精度向上のための自己訓練および超解像度化手法の適用 DC2024-111	○黒川　潤・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本　聡（都立大）
	-	休憩
2月18日(火) 午後  耐故障設計・オンラインテスト 座長: 土屋達弘（阪大） 14:40 - 15:55
(7)	14:40-15:05	ハードエラー耐性を考慮した高位合成の一手法 DC2024-112	○野間旭媛・大竹哲史（大分大）
(8)	15:05-15:30	A C-Element-Based Latch Design for Flip-Flops with Complete SNU and Partial DNU Tolerance and Enhanced Soft Error Resilience Around Clock Edges DC2024-113	○Song Wang・Kazuteru Namba（Chiba Univ）
(9)	15:30-15:55	楽観推定フィールドランダムテスタビリティ向上のための状態信号系列生成手法 [変更あり] DC2024-114	○廣瀬恭介・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）
	-	休憩
2月18日(火) 午後  テスト生成・低消費電力設計 座長: 三浦康之（湘南工大） 16:05 - 16:30 [変更あり]
(10) [変更あり]	16:05-16:30 [変更あり]	ウェアラブル機器に向けた低電源電圧OTAを用いた低消費電力ΔΣ変調器とその実測による評価 DC2024-115	○丸山尚哉・小松　聡（東京電機大）

問合先と今後の予定
DC	ディペンダブルコンピューティング研究会（DC）   [今後の予定はこちら]
	問合先	市原 英行 （広島市立大学大学院情報科学研究科） E-: i-cu
	お知らせ	◎最新情報は，DC研究会ホームページを御覧下さい． http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/index.html

Last modified: 2025-01-24 12:17:42