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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2014年度)
「from:2014-06-20 to:2014-06-20」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2014-06-20 13:15 |
東京 | 機械振興会館 | バッファ挿入を利用した信号遅延時間計測回路の開発 ○山本拓弥・三浦幸也（首都大東京）  DC2014-10 |
VLSI回路の微細化や低電圧化, 高速化がすすむにつれて, 製造ばらつきやトランジスタ劣化による信号遅延への影響が問題と... [more] | DC2014-10 pp.1-6 |
| DC | 2014-06-20 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | リング発振器を用いたLSIの劣化推定法 池田龍史・○三浦幸也（首都大東京） DC2014-11 |
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability（NBTI）やP... [more] | DC2014-11 pp.7-14 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| DC | 2014-06-20 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 ○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-13 |
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は，テスト対象パスの遅延増加等をもたらし，テスト精度低下の... [more] | DC2014-13 pp.21-26 |
| DC | 2014-06-20 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | 組込み自己テストのための耐故障応答圧縮器 ○深澤祐樹（三重大）・市原英行・井上智生（広島市大） DC2014-14 |
高信頼組込み自己テスト（BIST）はBIST回路自身の一時故障による誤りから回復可能であるため，製造テストだけでなく，L... [more] | DC2014-14 pp.27-32 |
| DC | 2014-06-20 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | 部分二重化を用いた微小誤りを許容するオンライン誤り検出可能な浮動小数点乗算器 ○鬼頭信貴（中京大）・秋元一志・高木直史（京大） DC2014-15 |
本稿では数値的に小さな誤りを許容するオンライン誤り検出可能な浮動小数点乗算器を提案する． 提案乗算器では浮動小数点乗算... [more] |
DC2014-15 pp.33-38 |
| DC | 2014-06-20 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | テスト環境生成結果を用いた階層テスト容易化バインディング法 ○西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-16 |
効率的な順序回路テスト生成法として機能レジスタ転送レベルの回路情報を利用した階層テスト生成法が提案されている．機能レジス... [more] | DC2014-16 pp.39-44 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
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