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シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)  (検索条件: 2017年度)

「from:2017-06-20 to:2017-06-20」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2017-06-20
13:00
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) [依頼講演]シンチレータとGa2O3半導体
岡田 豪臼井雄輝河野直樹河口範明柳田健之奈良先端大SDM2017-21
近年、放射線応用技術の高度化に伴い放射線検出に用いられるシンチレータにおいてより高い性能が求められている。シンチレータと... [more] SDM2017-21
pp.1-4
SDM 2017-06-20
13:20
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) [依頼講演]SOI技術を用いた量子イメージング検出器の開発 ~ 半導体で素粒子・X線を見る ~
新井康夫高エネルギー加速器研究機構SDM2017-22
シリコンは量子線(光子、X線、ガンマ線、電子、イオン、中性子等)を検出する為の物質として優れていると共に、エレクトロニク... [more] SDM2017-22
pp.5-8
SDM 2017-06-20
13:40
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) [依頼講演]皮膚アセトン測定に向けたWO3ナノ粒子半導体式ガスセンサの研究
山田祐樹檜山 聡NTTドコモ)・田畑 仁東大SDM2017-23
皮膚表面から放出されるアセトン(皮膚アセトン)は体脂肪の燃焼マーカーとして知られており,日常的に皮膚アセトンを測定するこ... [more] SDM2017-23
pp.9-13
SDM 2017-06-20
14:00
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) [依頼講演]ダイヤモンド中の窒素‐空孔センターによる高感度センシング技術
岩崎孝之波多野睦子東工大SDM2017-24
 [more] SDM2017-24
pp.15-18
SDM 2017-06-20
14:35
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) XPSによるHigh-k/SiO2界面の化学構造およびダイポールの評価
藤村信幸大田晃生池田弥央牧原克典宮崎誠一名大SDM2017-25
 [more] SDM2017-25
pp.19-23
SDM 2017-06-20
14:55
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) 定電圧および定電流印加によるSi酸化薄膜の電気抵抗変化特性評価
大田晃生加藤祐介池田弥央牧原克典宮崎誠一名大SDM2017-26
 [more] SDM2017-26
pp.25-29
SDM 2017-06-20
15:15
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) 分極接合基板上pチャネルGaN MOS構造の容量特性についての検討
高山留美星井拓也東工大)・中島 昭産総研)・西澤伸一九大)・大橋弘通角嶋邦之若林 整筒井一生東工大SDM2017-27
 [more] SDM2017-27
pp.31-34
SDM 2017-06-20
15:35
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) 高濃度SOI基板と転写法によるTMDC FETsの作製
川那子高暢居駒 遼高木寛之小田俊理東工大SDM2017-28
 [more] SDM2017-28
pp.35-38
SDM 2017-06-20
16:10
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) 硫黄雰囲気硫化プロセスによるスパッタMoS2薄膜の低キャリア密度化
松浦賢太朗大橋 匠宗田伊理也東工大)・石原聖也明大)・角嶋邦之筒井一生東工大)・小椋厚志明大)・若林 整東工大
 [more]
SDM 2017-06-20
16:30
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) Ge1-xSnxゲートスタック構造における欠陥の物性評価
金田裕一池 進一兼松正行坂下満男竹内和歌奈中塚 理財満鎭明名大SDM2017-29
Ge1-xSnxチャネルデバイスの実現には絶縁膜/Ge1-xSnx界面およびGe1-xSnx層中の欠陥制御が必要不可欠で... [more] SDM2017-29
pp.39-42
SDM 2017-06-20
16:50
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) エピタキシャルAg(111)上の極薄IV族結晶形成
伊藤公一大田晃生黒澤昌志洗平昌晃池田弥央牧原克典宮崎誠一名大SDM2017-30
卓越した電子物性が理論予測されているSiやGeなどのIV族元素の二次元結晶を作成することを目指し、SiやGeと共晶反応を... [more] SDM2017-30
pp.43-48
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