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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2020-11-30 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | 湿度加速試験一考察（その３） ○伊藤貞則（イトケン事務所）  R2020-29 |
日本で使用される電子機器にとって湿度ストレスはその信頼性を劣化させる大きな要因である．したがって湿度ストレスによる加速試... [more] | R2020-29 pp.30-35 |
| R | 2017-11-16 15:30 |
大阪 | 大阪中央電気俱楽部 | HALTにおけるストレスの効果 ○ピエ ラファエル・平田拓哉・河合秀己・青木雄一（エスペック） R2017-53 |
HALT（Highly Accelerated Limit Test）は，厳しいストレスを与え，短時間で製品の相対的な弱... [more] | R2017-53 pp.13-16 |
| R | 2015-11-19 14:25 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法 ○益田 昇・安永守利（筑波大） R2015-57 |
中性子線による半導体集積回路のソフトエラーでは1 粒子の中性子線が複数の回路に同時にエラーを起こす場合があり，これを対策... [more] | R2015-57 pp.5-10 |
| EMD, EMCJ (共催) |
2009-05-22 10:00 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その5) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMCJ2009-10 EMD2009-2 |
著者らは，鉛直方向のハンマリング加振によって電気接点に実用的な振動を与える機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を... [more] | EMCJ2009-10 EMD2009-2 pp.7-13 |
| R | 2008-11-14 14:00 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | 六価クロム検出加速試験の一考察 ○柳井健太郎・安井 徹・岸本典也（オムロン）・伊藤貞則（イトケン事務所） R2008-35 |
RoHS指令により、六価クロム化成皮膜の代替品として、三価クロム系化成皮膜が広く使われるようになっている。しかし三価クロ... [more] | R2008-35 pp.1-4 |
| OPE, R, CPM (共催) |
2005-04-22 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 光部品の加速寿命試験の検討 ○青木雄一・中川泰利（エスペック） |
光部品に用いられる接着剤およびアイソレータのHASTあるいは高温高湿試験を行い，加速性や活性化エネルギーを検討した． [more] | R2005-4 CPM2005-4 OPE2005-4 pp.17-20 |
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