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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2023-10-13
15:10
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F [招待講演]電気特性計測プラットフォームを用いたランダムテレグラフの動作条件依存性の統計的解析
間脇武蔵黒田理人東北大SDM2023-57
我々はアレイテスト回路などから構成される測定システム全体を,電気特性計測プラットフォーム技術と呼称し,様々な半導体素子の... [more] SDM2023-57
pp.21-26
WPT
(第二種研究会)
2017-12-09
- 2017-12-11
海外 シンガポール国立大学 Novel Extended Non-Breakdown Rectifier Topologies for Power-Optimized Waveform based Wireless Power Transfer Systems
Hao ZhangNUST)・Zheng ZhongYong-Xin GuoNUS)・Wen WuNUST
This paper presents two novel extended non-breakdown rectifi... [more]
ED 2014-08-01
13:30
東京 機械振興会館B3-1室 [招待講演]低電圧/高速動作にむけたInGaAs MOSFETソース構造
宮本恭幸金澤 徹米内義晴加藤 淳藤松基彦柏野壮志大澤一斗大橋一水東工大ED2014-56
高いオン電流($I_{on}$)と低いオフ電流 ($I_{off}$) を低電源電圧で実現することは、論理回路応用の為に... [more] ED2014-56
pp.19-24
SDM 2014-01-29
10:00
東京 機械振興会館 [招待講演]基板からみたGe n-MOSFETsにおける電子移動度の考察
李 忠賢西村知紀田畑俊行魯 辞莽張 文峰長汐晃輔鳥海 明東大SDM2013-136
本研究ではGe基板に由来するGe nMOSFETsにおける電子移動度の劣化機構について議論する. Ge nMOSFETs... [more] SDM2013-136
pp.5-8
SDM, ED
(共催)
(ワークショップ)
2012-06-29
11:15
沖縄 沖縄県青年会館 [招待講演]Thermal-Aware Device Desing of Nanoscale MOS Transistors
Ken UchidaKeio Univ.)・Tsunaki TakahashiNobuyasu BeppuTokyo Tech
The self-heating effects in Bulk/SOI FinFETs have been syste... [more]
SDM 2011-11-11
15:45
東京 機械振興会館 極微細MOSFETにおけるソース・ドレイン寄生抵抗の高次の効果
尹 鍾鐵廣木 彰京都工繊大SDM2011-129
極微細MOSFETにおけるソース・ドレイン寄生抵抗の高次の効果を調べた。寄生抵抗の高次の効果を含む飽和ドレイン電流を導出... [more] SDM2011-129
pp.81-85
ICD, ITE-IST
(連催)
2011-07-21
11:20
広島 広島工業大学 ブレイン・マシン・インタフェース用64chニューラルレコーディングチップ
吉田 毅末石勝也広島大)・小野将寛エイアールテック)・安藤博士広島大)・村坂佳隆岩田 穆エイアールテック)・松下光次郎平田雅之阪大)・鈴木隆文東大ICD2011-23
重度障害者を補助し生活の質を向上させるために医療向けのブレイン・マシン・インタフェース(BMI)の研究が行われている.B... [more] ICD2011-23
pp.25-30
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