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500件ずつ表示
研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
EMCJ
,
EMD
(共催)
WPT
,
PEM
(併催)
[詳細]
2019-07-19
11:25
東京
機械振興会館
[依頼講演]光変調散乱技術を用いた高周波電界センサの開発とEMCスキャナへの応用
○
黒澤孝裕
(
秋田県産技センター
)・
駒木根隆士
(
秋田高専
)
高周波電界中に設置した半導体からの散乱波を光変調して遠方に伝播させ,これを受信して散乱体位置の電界強度を測定する,光変調...
[more]
EMCJ
2019-04-12
09:30
沖縄
沖縄産業支援センター
油品質評価のためのマイクロ波散乱スペクトラム分析手法
○
高橋 徹
・
駒木根隆士
・
佐藤可奈
・
菅原英子
(
秋田高専
)・
黒澤孝裕
(
秋田県産技センター
)・
亀田幸則
・
吉田尚弘
(
KYB
)
EMCJ2019-9
安心・安全な現代の社会の実現のためには機械システムの性能や機能を維持する油は重要であり,その品質管理は極めて重要である....
[more]
EMCJ2019-9
pp.45-50
EMD
2015-05-15
17:40
秋田
秋田大学 手形キャンパス
散乱波を用いた棒状誘電体の高周波誘電率推定手法
○
鈴木耕也
・
駒木根隆士
(
秋田高専
)
EMD2015-10
誘電体の比誘電率の測定法には様々な方法があり,それぞれ特徴を持つ.本研究では,自由空間中に置いた誘電体に電波を照射し,そ...
[more]
EMD2015-10
pp.51-56
MW
,
EMCJ
(共催)
2010-10-22
10:35
秋田
秋田大学
散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法
○
駒木根隆士
・
黒澤孝裕
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
EMCJ2010-64 MW2010-99
誘電体の高周波誘電率を推定するために,既知の高周波放射電界中に置いた誘電体試料から再放射される散乱波の電界強度を計測する...
[more]
EMCJ2010-64
MW2010-99
pp.73-76
MW
,
EMCJ
(共催)
2010-10-22
11:00
秋田
秋田大学
変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法
○
黒澤孝裕
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)
EMCJ2010-65 MW2010-100
変調散乱素子を用いた電界強度測定において,周囲環境からの反射等の影響によっ
て変動する変調散乱波の振幅を校正する手法に...
[more]
EMCJ2010-65
MW2010-100
pp.77-80
EMCJ
2010-01-21
13:15
沖縄
琉球大学50周年記念館
散乱波を用いた高周波複素誘電率の推定
○
駒木根隆士
・
黒澤孝裕
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
EMCJ2009-104
電気電子機器材料をはじめとして,誘電体は重要な材料であり,高周波に対する誘電率や誘電損失など材料定数の評価法が様々考案さ...
[more]
EMCJ2009-104
pp.37-40
EMCJ
2010-01-21
13:40
沖縄
琉球大学50周年記念館
誘電体円柱を変調散乱素子として用いた放射電界の計測
○
黒澤孝裕
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)
EMCJ2009-105
放射電磁界がつくる任意位置における電界強度の推定手法として,誘電体を変調散乱素子として用いた,ワイヤレスで低侵襲性を目指...
[more]
EMCJ2009-105
pp.41-46
EMCJ
2008-11-20
15:20
東京
産業技術総合研究所 臨海副都心センター本館
散乱波を用いた高周波誘電率の推定法
○
駒木根隆士
・
黒澤孝裕
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
EMCJ2008-75
高周波比誘電率の様々な測定法が考案されてきている.筆者らが放射電界強度の計測のために検討している誘電体散乱プローブを用い...
[more]
EMCJ2008-75
pp.7-10
EMCJ
2007-12-07
13:25
静岡
クリエート浜松 53会議室
変調散乱素子として誘電体球を用いた放射電界の計測
○
黒澤孝裕
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)
EMCJ2007-100
放射電磁界がつくる任意位置における電界強度の推定手法として,
誘電体球を変調散乱素子として用いた,
ワイヤレスで低侵...
[more]
EMCJ2007-100
pp.25-29
EMCJ
,
MW
(共催)
2007-10-26
15:15
宮城
東北大学
誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法
○
駒木根隆士
・
黒澤孝裕
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
EMCJ2007-77 MW2007-124
電波暗室におけるEMI測定において,被測定物(EUT)近傍での磁界測定結果と,規格規制で定められた例えば3mの距離におけ...
[more]
EMCJ2007-77
MW2007-124
pp.135-139
EMD
2007-03-09
14:50
千葉
千葉工業大学(津田沼キャンパス 6号館3階631教室)
磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討
○
佐々木雄紀
・
萓野良樹
(
秋田大
)・
丹 健二
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
[more]
EMD2006-80
pp.25-28
EMCJ
,
MW
(共催)
2006-10-26
11:10
青森
八戸工業大学
高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出 (その3)
○
萓野良樹
・
佐々木雄紀
(
秋田大
)・
丹 健二
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
EMCJ2006-54 MW2006-110
近年,プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は,電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interf...
[more]
EMCJ2006-54
MW2006-110
pp.19-24
EMCJ
2006-04-18
14:30
東京
青山学院大学 青山キャンパス
高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出 (その2)
○
萓野良樹
(
秋田大
)・
丹 健二
・
山川清志
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)・
井上 浩
(
秋田大
)
EMCJ2006-4
近年,プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は,電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interf...
[more]
EMCJ2006-4
pp.19-23
EMCJ
,
MW
(共催)
2005-10-27
14:20
秋田
秋田大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリ(VBL)2階大セミナー室
高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出
○
丹 健二
・
山川清志
・
駒木根隆士
(
秋田県産技総研センター
)・
萓野良樹
・
井上 浩
(
秋田大
)
[more]
EMCJ2005-88
MW2005-94
pp.47-52
14件中 1~14件目
/
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タイトル順
著者順
所属順
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