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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, SDM (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2022-08-08 11:45 |
ONLINE | オンライン開催に変更 現地開催(北海道大学百年記念会館)は中止 | ［招待講演］3次元フラッシュメモリの高ビット密度を実現する半円型ゲート分断構造セルの構造及び動作の最適化検討 ○諸岡 哲・石川貴之・小村政則・加藤竜也・小山幸紀・韓 業飛・菅原陽平・桑原大輔・新屋敷悠介・村山昭之・西山勝哉・杉前紀久子・小倉達郎・竹田 裕・刈谷奈由太・合木悠佑・小沼将大・神谷優太・山下博幸・滋賀秀裕・板垣清太郎・田中里英子・前田高志・大谷紀雄・藤原 実（キオクシア）  SDM2022-36 ICD2022-4 |
3次元フラッシュメモリのセルサイズを縮小し、少ない層数で高いビット密度を実現する技術として期待されているゲート分断構造セ... [more] | SDM2022-36 ICD2022-4 p.12 |
| ISEC | 2016-05-19 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | Non-overlapping template matching testを用いたテンプレートの同定法の改善案 ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生（中大） ISEC2016-1 |
[more] | ISEC2016-1 pp.1-4 |
| ISEC | 2014-12-19 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | Non-overlapping template matching testを用いたテンプレートの同定 ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生（中大） ISEC2014-70 |
[more] | ISEC2014-70 pp.7-10 |
| HCS, HIP (共催) HI-SIGCOASTER (連催) [詳細] |
2014-05-29 10:50 |
沖縄 | 沖縄産業支援センター | リーチング運動における対象の視知覚位置推定技術の精度向上方法の検討 ～ カイ2乗分布の関数を用いた推定 ～ ○松島和輝・ピヤラット シラパスパコォンウォン・海野 浩・鈴木雅洋・上平員丈・竹田裕一（神奈川工科大） HCS2014-3 HIP2014-3 |
本研究では，リーチング運動から視知覚位置を推定する技術の正確性を向上させる方法を検討する．3D映像と観察者の身体との相互... [more] | HCS2014-3 HIP2014-3 pp.11-16 |
| ISEC | 2013-12-11 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 改良型Non-overlapping Template Matching Testにおけるテンプレートによる検出率の差について ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生（中大） ISEC2013-76 |
[more] | ISEC2013-76 pp.21-23 |
| ISEC | 2012-05-18 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | Kolmogorov-Smirnovの片側検定を用いたNon-over lapping template matching testの改善案 ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生（中大） ISEC2012-1 |
[more] | ISEC2012-1 pp.1-4 |
| ISEC | 2010-12-15 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | NISTによるテンプレート適合検定とその修正した検定法の比較 ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生（中大） ISEC2010-70 |
[more] | ISEC2010-70 pp.33-36 |
| ISEC | 2010-05-21 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | Non-over Lapping Template Matching TestにおけるTemplateの定め方に関する提案と検定法の改善について ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生・杉山高一（中大） ISEC2010-1 |
[more] | ISEC2010-1 pp.1-4 |
| SDM | 2009-11-13 10:50 |
東京 | 機械振興会館 | フルバンド・デバイスシミュレーションによる歪みSiGe/Si-pMOSFETのキャリア輸送特性解析 ○竹田 裕（NECエレクトロニクス）・河田道人（NEC情報システムズ）・竹内 潔・羽根正巳（NECエレクトロニクス） SDM2009-144 |
歪みSiGe/SiチャネルpMOSFETのキャリア輸送特性をフルバンド・デバイスシミュレーションにより解析し、最適なSi... [more] | SDM2009-144 pp.49-53 |
| DE | 2009-09-07 09:55 |
東京 | 産総研臨海副都心センター 別館11F 会議室１ | 変換テーブルを活用した冗長な農薬使用基準データのデータベース化手法 ○新田 仁・竹田裕紀（阪府産技研） DE2009-12 |
農作物の栽培で農薬を使用するには，農薬取締法の基準を守らなければならない．しかし，この基準に記載される表現は，各農薬メー... [more] | DE2009-12 pp.7-12 |
| ISEC | 2009-05-22 10:20 |
東京 | 機械振興会館 | NISTで提案されているNon-overlapping Template Matching Testの修正案 ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生・杉山高一（中大） ISEC2009-2 |
[more] | ISEC2009-2 pp.9-12 |
| ISEC | 2007-12-19 09:30 |
東京 | 機械振興会館 | 暗号に用いる乱数検定と相関に関する検定について ○竹田裕一（神奈川工科大）・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生・杉山高一（中大） ISEC2007-112 |
[more] | ISEC2007-112 pp.1-3 |
| SDM, VLD (共催) |
2007-10-30 15:25 |
東京 | 機械振興会館 | Ge-pMOSFETにおける正孔輸送特性の歪み依存性解析 ○竹田 裕（NEC）・池澤健夫・河田道人（NEC情報システムズ）・羽根正巳（NEC） VLD2007-58 SDM2007-202 |
高移動度デバイスとして期待の高いGe デバイスの輸送特性の解析を行った．フルバンド・モンテカルロ・デバイスシミュレーショ... [more] | VLD2007-58 SDM2007-202 pp.37-41 |
| ISEC | 2006-12-13 09:55 |
東京 | 機械振興会館 | 相関をもつ乱数列の暗号に用いるための検定について ○竹田裕一・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生・杉山高一（中大） |
[more] | ISEC2006-101 pp.1-3 |
| ISEC | 2005-12-16 10:40 |
東京 | 機械振興会館 | NISTの乱数検定法のテンプレート適合度検定における問題点 ○竹田裕一・藤井光昭・鎌倉稔成・渡邉則生・杉山高一（中大） |
[more] | ISEC2005-110 pp.1-4 |
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