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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2009-06-19 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例 ○山元廣志・和田弘樹・小串 亨・中尾教伸（ルネサステクノロジ）  DC2009-17 |
半導体製造プロセスの微細化や複雑化に伴い，故障モードが多様となっており，製品の歩留り向上・品質確保のためには，その製品で... [more] | DC2009-17 p.35 |
| EMCJ | 2009-06-05 14:50 |
東京 | 東京ビッグサイト（東京国際展示場） | パッケージ-チップ間寄生結合を考慮したLSI電源系の高周波特性抽出に関する検討 ○喜多知広・馬淵雄一・田中広志・久門尚史・和田修己（京大）・中村 篤（ルネサステクノロジ） EMCJ2009-31 |
電子機器の効率の良いEMC設計法の確立のためには，IC/LSI電源系に流れるノイズ電流のシミュレーションに適したEMCマ... [more] | EMCJ2009-31 pp.51-56 |
| ICD | 2009-04-13 15:40 |
宮城 | 大観荘（宮城県松島町） | ［パネル討論］低電圧システム向けに有望なメモリ技術は何か? ○日高秀人（ルネサステクノロジ）・山岡雅直（日立）・宮野信冶（東芝）・秋山 悟（日立）・杉林直彦（NEC）・川嶋将一郎（富士通マイクロエレクトロニクス）・尾坂匡隆（パナソニック） ICD2009-4 |
SOC向けの低電圧メモリは混載SRAMが主流であるが、微細化に伴い、ロジックコア電圧に追随した低電圧化の困難化、待機電力... [more] | ICD2009-4 p.19 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | プロセスばらつきや温度耐性を向上した45nm SoC向け混載SRAM ○薮内 誠・新居浩二・塚本康正・大林茂樹・今岡 進（ルネサステクノロジ）・山上由展・石倉 聡・寺野登志夫・里見勝治・赤松寛範（松下電器）・篠原尋文（ルネサステクノロジ） SDM2008-131 ICD2008-41 |
微細化によるランダムばらつき増大によって、SRAMの動作マージンが減少している。これを改善するために、抵抗型リードアシス... [more] | SDM2008-131 ICD2008-41 pp.17-22 |
| RECONF | 2006-05-18 15:15 |
宮城 | 東北大学 | Matrix Processing Engineのメディア処理アプリケーションによる性能評価 ○大野隆行（熊本大）・山崎博之（ルネサステクノロジ）・飯田全広・久我守弘・末吉敏則（熊本大） |
近年，携帯電話やデジタルカメラなどの普及によりマルチメディアデータ処理における処理性能の向上が求められるている．株式会社... [more] | RECONF2006-6 pp.31-36 |
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