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VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
09:15
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル
保坂 巧埼玉大)・西澤真一福岡大)・岸田 亮東京理科大)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大VLD2019-35 DC2019-59
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性(NBTI)モデルを提案する.提案モデルは反応拡散(tn)およびホールトラッ... [more] VLD2019-35 DC2019-59
pp.57-62
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
14:10
広島 サテライトキャンパスひろしま FPGAとマイコンを用いたリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価
中野洋希京都工繊大)・岸田 亮東京理科大)・古田 潤小林和淑京都工繊大CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74
 [more] CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74
pp.31-36
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, CPSY
(共催)
2014-12-02
14:50
東京 機械振興会館 65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価
岸田 亮大島 梓小林和淑京都工繊大ICD2014-106 CPSY2014-118
近年の集積回路の微細化により,アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている.本稿では,アンテナダメージによる経年劣... [more] ICD2014-106 CPSY2014-118
pp.123-128
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
14:55
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価
大島 梓岸田 亮籔内美智太郎小林和淑京都工繊大SDM2014-79 ICD2014-48
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい
る。本研究では, 65nm バルク・S... [more]
SDM2014-79 ICD2014-48
pp.93-98
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-28
13:20
鹿児島 鹿児島県文化センター バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの発振周波数ばらつきの評価
岸田 亮籔内美智太郎大島 梓小林和淑京都工繊大VLD2013-83 DC2013-49
近年の集積回路の微細化により、アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている。
本稿ではリングオシレータにおいて発... [more]
VLD2013-83 DC2013-49
pp.159-164
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