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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2012-02-13 11:05 |
東京 | 機械振興会館 | パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 ○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2011-78 |
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために，遅延テストが広く用いられている．本稿では，遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] | DC2011-78 pp.13-18 |
| DC | 2011-06-24 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト ○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm） DC2011-13 |
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する．本稿では，X判定技術とX割当技術を... [more] | DC2011-13 pp.29-34 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 14:05 |
高知 | 高知市文化プラザ | 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究 ○別府 厳（九工大）・宮瀬紘平（九工大/JST）・大和勇太（九工大）・温 暁青・梶原誠司（九工大/JST） VLD2009-55 DC2009-42 |
LSIのテストにおけるスキャンシフト動作，キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は，解決すべき重要な課題である... [more] | VLD2009-55 DC2009-42 pp.95-100 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 13:50 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について ○高嶋敦之・大和勇太・古川 寛・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2008-62 DC2008-30 |
スキャンテストのキャプチャモードにおいて，回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可... [more] | VLD2008-62 DC2008-30 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について ○福澤友晶・宮瀬紘平・大和勇太・古川 寛・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2007-71 DC2007-26 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] | VLD2007-71 DC2007-26 pp.7-12 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について ○塔ノ上義章・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平（JST）・鈴木達也・大和勇太（九工大） |
スキャンテストにおいて，キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性... [more] | CPM2006-148 ICD2006-190 pp.109-114 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-02 09:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について ○鈴木達也・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平・皆本義弘（JST） |
スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のＩＲドロップを引き起こす可能性が... [more] | VLD2005-76 ICD2005-171 DC2005-53 pp.1-6 |
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