Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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R2010-32
はんだ接続点におけるエレクトロマイグレーションによる劣化評価
○樋口晃裕・平岡一則（サレジオ高専）
pp. 1 - 4
R2010-33
急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討
○青木雄一・岡本 学（エスペック）・増田 淳・土井卓也（産総研）
pp. 5 - 8
R2010-34
封止接着剤の透湿性低減によるリレー封止信頼性の改良
○福原智博・伊藤満雄・大谷 修（オムロン）
pp. 9 - 13
R2010-35
ブートストラップを活用したテスト工程におけるソフトウェア信頼性評価手法
○藤原隆次（ビジネスキューブ・アンド・パートナーズ）・木村光宏（法政大）
pp. 15 - 20
R2010-36
確率過程モデルに基づく劣化データの信頼性解析
○貝瀬 徹（兵庫県立大）
pp. 21 - 24
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．