Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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R2011-8
［招待講演］レーザSQUID顕微鏡，レーザテラヘルツ放射顕微鏡，関連シミュレーションの統合的／選択的利用 ～ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ～
○二川 清（阪大）・山下将嗣（理研）・松本 徹（浜松ホトニクス）・三浦克介・御堂義博・中前幸治（阪大）
pp. 1 - 6
R2011-9
走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察
○本田耕一郎（富士通研）・長 康雄（東北大）
pp. 7 - 12
R2011-10
XRDを用いたカーボンナノチューブ構造体の結晶構造解析法
○古田 寛（高知工科大）
pp. 13 - 17
R2011-11
酸化亜鉛薄膜トランジスタ(ZnO TFT)のバイアスストレス劣化メカニズム
○古田 守・平松孝浩・松田時宜・平尾 孝（高知工科大）・鎌田雄大・藤田静雄（京大）
pp. 19 - 22
R2011-12
［招待講演］レーザ励起による準静電界を用いた故障解析手法
○伊藤誠吾・滝口清昭（東大）
pp. 23 - 28
R2011-13
量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価
○三浦克介・野津孝行・中前幸治（阪大）
pp. 29 - 34
R2011-14
CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定
○岸 和敬・眞田 克（高知工科大）
pp. 35 - 40
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．