Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2013-10
データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法
○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）
pp. 1 - 6
DC2013-11
制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法
○森保孝憲・大竹哲史（大分大）
pp. 7 - 12
DC2013-12
フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察
○佐藤康夫・梶原誠司（九工大）
pp. 13 - 18
DC2013-13
インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案
○永元雄宙・小島英春・土屋達弘（阪大）
pp. 19 - 23
DC2013-14
バウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法
○加藤健太郎（鶴岡高専）
pp. 25 - 29
DC2013-15
リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法
○池田龍史・三浦幸也（首都大東京）
pp. 31 - 36
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．