電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 115, Number 191

集積回路

開催日 2015-08-24 - 2015-08-25 / 発行日 2015-08-17

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目次

ICD2015-26
[招待講演]フィラメント制御による28nm混載メモリ向けReRAM開発
○早川幸夫・姫野敦史・安原隆太郎・藤井 覚・伊藤 理・川島良男・池田雄一郎・川原昭文・河合 賢・魏 志強・村岡俊作・島川一彦・三河 巧・米田慎一(パナソニック)
pp. 1 - 5

ICD2015-27
半断線ビア抵抗を検出するためのスクライブライン搭載アレイTEG技術の開発
○新川田裕樹・坪井信生(ルネサス エレクトロニクス)・津田淳史(ルネサス システムデザイン)・佐藤伸吾(関西大)・山口泰男(ルネサス エレクトロニクス)
pp. 7 - 10

ICD2015-28
[招待講演]TFET(トンネルトランジスタ)のコンパクトモデル実装と超低消費電力回路応用検討
○田中千加・外園 明・安達甘奈・後藤正和・近藤佳之・杉崎絵美子・藤松基彦・原 浩幸・宮野信治・櫛田桂一・川中 繁(東芝)
pp. 11 - 13

ICD2015-29
[招待講演]負性容量による急峻スロープトランジスタ(NCFET)の設計指針
○小林正治・平本俊郎(東大)
pp. 15 - 18

ICD2015-30
[招待講演]原子スイッチを用いた不揮発性論理回路(NPL)およびROM
○辻 幸秀・白 旭・宮村 信・阪本利司・多田宗弘・伴野直樹・岡本浩一郎・井口憲幸(NEC)・杉井信之(日立)・波田博光(NEC)
pp. 19 - 24

ICD2015-31
非均等な時間間隔サンプリングされたデータの周波数成分ベクトルを求める演算回路
○田中 優・梁 維焜・萩原良昭(崇城大)
pp. 25 - 30

ICD2015-32
[招待講演]低消費電力LSI応用へ向けた高移動度III-V/Ge CMOS技術の最近の進展と課題
○入沢寿史(産総研)・池田圭司・上牟田雄一・小田 穣・手塚 勉(産総研/東芝)・前田辰郎・太田裕之・遠藤和彦(産総研)
pp. 31 - 36

ICD2015-33
16nm FinFETの容量解析と性能・面積検討
○岡垣 健・渋谷宏治・森本薫夫・塚本康正・新居浩二・小野沢和徳(REL)
pp. 37 - 40

ICD2015-34
[招待講演]低電力混載ReRAM技術
○植木 誠・田辺 昭・砂村 潤・成廣 充・上嶋和也・増﨑幸治・古武直也・満生 彰・武田晃一・長谷 卓・林 喜宏(ルネサス エレクトロニクス)
pp. 41 - 46

ICD2015-35
再構成可能論理回路の設計と構成素子の見積もり
○嘉藤淳紀・渡辺重佳・二宮 洋・小林 学・三浦康之(湘南工科大)
pp. 47 - 52

ICD2015-36
[招待講演]high-k添加シングルp+Polyゲートを用いた超低リーク用途向け薄膜BOX-SOI CMOS
○山本芳樹・槇山秀樹・山下朋弘・尾田秀一・蒲原史朗・山口泰男(ルネサス エレクトロニクス)・杉井信之(日立)・水谷朋子・小林正治・平本俊郎(東大)
pp. 53 - 57

ICD2015-37
線幅2nmの超微細シリコンナノワイヤトランジスタにおけるしきい値電圧および電流ばらつき
○水谷朋子・棚橋裕麻・鈴木龍太・更屋拓哉・小林正治・平本俊郎(東大)
pp. 59 - 62

ICD2015-38
[招待講演]45.5% Energy Reduction by applying DVFS and Multi-Level-Shift Architecture for Low-Power SoCs
○田辺 聡・村松 篤・川崎健一・毛利真寿・石原輝雄(富士通研)
pp. 63 - 68

ICD2015-39
[招待講演]A 25Gb/s Hybrid Integrated Silicon Photonic Transceiver in 28nm CMOS and SOI
○Toshihiko Mori・Yanfei Chen・Masaya Kibune(Fujitsu Lab.)・Asako Toda(Fujitsu Lab. America)・Akinori Hayakawa・Tomoyuki Akiyama・Shigeaki Sekiguchi・Hiroji Ebe・Nobuhiro Imaizumi・Tomoyuki Akahoshi(Fujitsu Lab.)・Suguru Aiyama・Shinsuke Tanaka・Takasi Simoyama(PETRA)・Ken Morito(Fujitsu Lab.)・Takuji Yamamoto(Fujitsu Lab. America)
pp. 69 - 72

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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