Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2017-77
2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察
○新井雅之（日大）・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 1 - 6
DC2017-78
コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法
○竹内勇希・武田 俊・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）
pp. 7 - 12
DC2017-79
TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減
○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
pp. 13 - 18
DC2017-80
正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
○河野雄大・宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大）
pp. 19 - 24
DC2017-81
kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法
○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）
pp. 25 - 30
DC2017-82
焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成
○小西達也・小島英春・中川博之・土屋達弘（阪大）
pp. 31 - 35
DC2017-83
アドホックネットワークにおけるステートレスな回避ルーティングに関する一考察
○前田智徳・酒井和哉・福本 聡（首都大東京）
pp. 37 - 42
DC2017-84
A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation
○Fakir Sharif Hossain・Tomokazu Yoneda・Michihiro Shintani・Michiko Inoue（NAIST）・Alex Orailoglu（Univ. of California, San Diego）
pp. 43 - 48
DC2017-85
デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法
○井上賢二・三宅庸資・梶原誠司（九工大）
pp. 49 - 54
DC2017-86
LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討
○佐藤晃平・三浦幸也（首都大東京）
pp. 55 - 60
DC2017-87
Testing the Bridge Interconnect Fault for Memory based Reconfigurable Logic Device (MRLD)
○Senling Wang・Tatsuya Ogawa・Yoshinobu Higami・Hiroshi Takahashi（Ehime Univ.）・Masayuki Sato・Mitsunori Katsu（TRL）・Shoichi Sekiguchi（TAIYOYUDEN）
pp. 61 - 66
DC2017-88
電源ノイズによるフリップフロップ回路の動作への影響とその対策の提案
○井上美優紀・三浦幸也（首都大東京）
pp. 67 - 72
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．