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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2011年度)
「from:2012-02-13 to:2012-02-13」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2012-02-13 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用 ○大川善大・三浦幸也（首都大東京）  DC2011-76 |
従来のエッジトリガフリップフロップは単一のクロックエッジに同期してデータ信号を取り込む．このため，エッジの近傍にノイズパ... [more] | DC2011-76 pp.1-6 |
| DC | 2012-02-13 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | AES暗号回路におけるトロイ設計の影響評価 ○荻田英実・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-77 |
[more] | DC2011-77 pp.7-12 |
| DC | 2012-02-13 11:05 |
東京 | 機械振興会館 | パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 ○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2011-78 |
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために，遅延テストが広く用いられている．本稿では，遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] | DC2011-78 pp.13-18 |
| DC | 2012-02-13 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察 ○新井雅之・清水貴弘・岩崎一彦（首都大東京） DC2011-79 |
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．本稿では，... [more] | DC2011-79 pp.19-24 |
| DC | 2012-02-13 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について ○加藤隆明・王 森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） DC2011-80 |
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では，テスト時の高い電力消費が問題である．本研究では，スキャンBISTに... [more] | DC2011-80 pp.25-29 |
| DC | 2012-02-13 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 ～ 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 ～ ○亀山修一（富士通/愛媛大）・馬場雅之（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2011-81 |
エレクトロニクス製品の小型高機能化に伴い実装プリント板の高密度化が増々進んでおり，実装不良を容易に検出できるバウンダリス... [more] | DC2011-81 pp.31-35 |
| DC | 2012-02-13 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法 ○高橋明彦・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-82 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，回路内のゲート数が増加している．それにともない，テスト対象となる故障数が増加... [more] | DC2011-82 pp.37-42 |
| DC | 2012-02-13 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法 ○内田行紀・村田絵理（奈良先端大）・大竹哲史（大分大/JST）・中島康彦（奈良先端大） DC2011-83 |
Quasi-Delay-Insensitive（QDI）設計は非同期式回路の現実的な実現手法の一つとして注目されている．... [more] | DC2011-83 pp.43-48 |
| DC | 2012-02-13 15:30 |
東京 | 機械振興会館 | プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み ○新谷道広・佐藤高史（京大） DC2011-84 |
[more] | DC2011-84 pp.49-54 |
| DC | 2012-02-13 15:55 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング ○森永洋介（奈良先端大）・米田友和（奈良先端大/JST）・李 賢彬（Hanbat National Univ.）・井上美智子（奈良先端大/JST） DC2011-85 |
[more] | DC2011-85 pp.55-60 |
| DC | 2012-02-13 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） DC2011-86 |
VLSIの高機能化や高性能化，製造プロセスの微細化に伴い，劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し，障害発生による... [more] | DC2011-86 pp.61-66 |
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