9月14日(金) 午前  10:30 - 15:50
(1)	10:30-10:55	SEM中マイクロプラズマによる材料プロセス R2007-29	大井秀宣・岡崎康朗・高橋那欣・○八田章光（高知工科大）
(2)	10:55-11:20	トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ～ フィードバック故障による発振現象の取得 ～ R2007-30	○真田　克・中村朋矢・橋田啓示（高知工科大）
(3)	11:20-11:45	RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行 R2007-31	○吉澤　豊（NECエレクトロニクス）
	11:45-13:10	昼食　（ 85分 ）
(4)	13:10-13:40	［招待講演］故障診断における欠陥モデルの動向 ～ チュートリアル ～ R2007-32	○佐藤康夫（日立）
(5)	13:40-14:05	LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について R2007-33	○中村優介・大和勇太・温　暁青・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）・K. K. サルージャ（ウィスコンシン大）
(6)	14:05-14:30	LSIテスタとデバイス間の伝送経路の評価とシミュレーションモデル化について R2007-34	○土屋秀和・浅川　毅（東海大）・佐藤正幸（ジェネシス・テクノロジー）
	14:30-15:00	休憩　（ 30分 ）
(7)	15:00-15:25	電子部品の故障解析および良品解析 ～ 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み ～ R2007-35	○今井康雄・田中大起（沖エンジニアリング）
(8)	15:25-15:50	LSIの製造品質評価としての構造解析手法の活用 R2007-36	○梶沼雅仁・溝口　彰・武内広一朗（三菱電機）

問合先と今後の予定
R	信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
	問合先	弓削哲史(防衛大学校) TEL 046-841-3810 FAX 046-844-5903 E-: gen

Last modified: 2007-08-27 09:13:42