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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2022年度)
「from:2023-02-28 to:2023-02-28」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 11:00 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討 ○杉岡拓海・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大）  DC2022-82 |
[more] | DC2022-82 pp.1-5 |
| DC | 2023-02-28 11:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2022-83 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | DC2022-83 pp.6-11 |
| DC | 2023-02-28 13:00 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
信頼度計算プログラムに対するメタモルフィックテスティングの適用 ○浅地泰斗・土屋達弘（阪大） DC2022-84 |
障害が大きな危険をもたらす可能性があるセーフティクリティカルシステムの開発では，信頼度評価が重要である．そこで本研究では... [more] | DC2022-84 pp.12-15 |
| DC | 2023-02-28 13:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints ○Lele Jiang・Tatsuhiro Tsuchiya（Osaka Univ.） DC2022-85 |
[more] | DC2022-85 pp.16-20 |
| DC | 2023-02-28 13:50 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
近似乗算器における誤り補正と信頼度の関係に関する解析 ○髙妻珠希・王 麒霖・市原英行・井上智生（広島市大） DC2022-86 |
[more] | DC2022-86 pp.21-26 |
| DC | 2023-02-28 14:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 ○魏 少奇・塩谷晃平・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2022-87 |
大規模集積回路のテスト品質を向上するためには，回路の中に可観測性や可制御性を向上できるテストポイント（Test Poin... [more] | DC2022-87 pp.27-32 |
| DC | 2023-02-28 14:50 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 徐 浩豊・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2022-88 |
[more] | DC2022-88 pp.33-38 |
| DC | 2023-02-28 15:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） DC2022-89 |
近年超大規模集積回路の微細化，高速化，電源電圧の低電圧化により，タイミング遅延を伴う欠陥が増加している．それゆえ， 遷移... [more] | DC2022-89 pp.39-44 |
| DC | 2023-02-28 15:50 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
入力電圧範囲を制御可能な確率的フラッシュADC ○坂口 平・小松 聡（東京電機大） DC2022-90 |
本研究では入力電圧範囲を所望の電圧範囲に制御可能な確率的フラッシュ ADCを提案する。確率的フラッシュ ADCとはコンパ... [more] | DC2022-90 pp.45-50 |
| DC | 2023-02-28 16:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability ○Ruijun Ma（AUST）・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Hui Xu（AUST）・Aibin Yan（AU） DC2022-91 |
[more] | DC2022-91 pp.51-55 |
| DC | 2023-02-28 16:40 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
論理回路内のホットスポット特定のための効率的な 信号値遷移確率計算に関する研究 ○宇都宮大喜・宮瀬紘平・星野 龍（九工大）・ルー シュエクン（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2022-92 |
LSIテストにおいて消費電力が大きい場合，過度のIR-dropを引き起こすことがある．過度のIR-dropは過度の遅延を... [more] | DC2022-92 pp.56-61 |
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