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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2013年度)
「from:2014-02-10 to:2014-02-10」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2014-02-10 09:00 |
東京 | 機械振興会館 | モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法 ○小松 巡・岩田大志・山口賢一（奈良高専）  DC2013-79 |
近年，半導体プロセスの微細化により，動作速度や電力消費に与える配置配線の影響が大きくなっており， テスト容易化設計時に... [more] |
DC2013-79 pp.1-5 |
| DC | 2014-02-10 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価 ○櫻井浩希・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2013-80 |
ディープサブミクロン(DSM)ICでは，抵抗性ショート欠陥やオープン欠陥が従来の縮退故障の振る舞いをせず，遅延として現れ... [more] | DC2013-80 pp.7-12 |
| DC | 2014-02-10 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | 非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法 ○水谷早苗・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-81 |
VLSI の製造プロセスの微細化に伴い,非同期式回路が注目されている.非同期式回路の実現方法として, 同期式回路から非同... [more] | DC2013-81 pp.13-18 |
| DC | 2014-02-10 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法 ○小河 亮・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-82 |
VLSIのテスト時にはオーバーテストを防ぐために消費電力を通常動作時程度にする必要がある．テスト時の電力が高いとテスト時... [more] | DC2013-82 pp.19-24 |
| DC | 2014-02-10 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2013-83 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-83 pp.25-30 |
| DC | 2014-02-10 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察 ○中山裕太（首都大東京）・新井雅之（日大）・史 虹波・岩崎一彦（首都大東京） DC2013-84 |
[more] | DC2013-84 pp.31-36 |
| DC | 2014-02-10 12:00 |
東京 | 機械振興会館 | 最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法 ○新谷道広・佐藤高史（京大） DC2013-85 |
[more] | DC2013-85 pp.37-42 |
| DC | 2014-02-10 12:25 |
東京 | 機械振興会館 | メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 ○里中沙矢香・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-86 |
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために，BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている．しか... [more] | DC2013-86 pp.43-48 |
| DC | 2014-02-10 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | BASTにおけるシフトデータ量削減法 ○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大） DC2013-87 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] | DC2013-87 pp.49-54 |
| DC | 2014-02-10 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法 ○森 凌太・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2013-88 |
スキャンベースBIST の技術を応用した手法として,BIST 内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し... [more] | DC2013-88 pp.55-60 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| DC | 2014-02-10 16:40 |
東京 | 機械振興会館 | Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装 ○森 拓馬・大元将一・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） DC2013-90 |
本研究ではDual-FPGAアーキテクチャに基づいた相互再構成型耐故障システムを提案する． 提案システムは故障状況を推... [more] |
DC2013-90 pp.67-72 |
| DC | 2014-02-10 17:05 |
東京 | 機械振興会館 | XMeshプロトコルを用いたワイヤレスセンサーネットワークに対するワームホール攻撃の検出 ○蓑原 隆・吉井 碧（拓殖大） DC2013-91 |
センサーを持つ小型無線端末を多数配置することで環境などの情報を収集する無 線センサーネットワークが様々な応用分野で注目... [more] |
DC2013-91 pp.73-78 |
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