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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (検索条件: 2015年度)

「from:2016-02-17 to:2016-02-17」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2016-02-17
10:00
東京 機械振興会館 双対近似回路を用いた同時多重過渡故障検出に関する一考察
曽根原啓介新井雅之日大DC2015-86
 [more] DC2015-86
pp.1-6
DC 2016-02-17
10:25
東京 機械振興会館 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2015-87
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] DC2015-87
pp.7-12
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
DC 2016-02-17
11:30
東京 機械振興会館 連続ビット系列の動的共有によるストカスティックコンピューティングの高速化
高森研輔市原英行岩垣 剛井上智生広島市大DC2015-89
一定の誤りを許容するエラートレラントアプリケーションのために,確率を用いて演算を行うストカスティックコンピューティングが... [more] DC2015-89
pp.19-24
DC 2016-02-17
11:55
東京 機械振興会館 ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境
川崎真司米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大DC2015-90
故障インジェクションとは,故障が発生した回路の振る舞いを再現するための技術であり,ソフトエラーの影響解析などの目的で使用... [more] DC2015-90
pp.25-30
DC 2016-02-17
14:00
東京 機械振興会館 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法
高野秀之細川利典山崎紘史日大)・山崎浩二明大DC2015-91
 [more] DC2015-91
pp.31-36
DC 2016-02-17
14:25
東京 機械振興会館 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法
里中沙矢香米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大DC2015-92
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] DC2015-92
pp.37-42
DC 2016-02-17
14:50
東京 機械振興会館 テストパターン数削減のためのRTLテストポイント挿入法
大崎直也細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2015-93
VLSIのテストコスト削減のため,テストポイント挿入を用いたテストパターン数削減法が提案されている.ゲートレベルにおける... [more] DC2015-93
pp.43-48
DC 2016-02-17
15:15
東京 機械振興会館 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-94
 [more] DC2015-94
pp.49-54
DC 2016-02-17
15:40
東京 機械振興会館 車載ネットワークCANにおけるハイブリッド通信プロトコル
許斐康司中村宗幸酒井和哉福本 聡首都大東京DC2015-95
近年登場した電気自動車やハイブリッド自動車により,コントローラエリアネットワーク(CAN)が,電源変換回路のスイッチング... [more] DC2015-95
pp.55-59
DC 2016-02-17
16:05
東京 機械振興会館 電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究
山本拓弥三浦幸也首都大東京DC2015-96
近年,VLSI回路の微細化,低電圧化が進むにつれて,IR-drop のような電源ノイズが論理回路,特にSRAM(stat... [more] DC2015-96
pp.61-66
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