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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2020-02-26
10:50
東京 機械振興会館 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
中西遼太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2019-88
 [more] DC2019-88
pp.13-18
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
DC 2019-12-20
15:40
和歌山 南紀くろしお商工会 機械学習による鉄道信号設備の状態基準保全に関する研究
志田 洋JR西日本)・田村晃裕二宮 崇高橋 寛愛媛大DC2019-83
公共性の高いシステムはディペンダビリティが求められる.ディペンダビリティを維持するためシステムの構成部品の劣化傾向を把握... [more] DC2019-83
pp.25-30
MWP 2019-11-27
13:30
東京 機械振興会館 光位相制御を用いたRoF伝送における高周波信号の位相シフト法
高橋 浩上智大MWP2019-42
RoF伝送システムのファイバ伝送路の途中におかれた光集積回路を用いて、変調光の上下側帯波間の位相を制御することにより、光... [more] MWP2019-42
pp.1-4
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
DC 2019-02-27
11:20
東京 機械振興会館 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構
平本悠翔郎大竹哲史大分大)・高橋 寛愛媛大DC2018-76
 [more] DC2018-76
pp.31-36
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
LSJ
(共催)
OCS, OFT
(併催) [詳細]
2018-08-30
14:30
北海道 函館北洋ビル8階大ホール ファイバ断面におけるブリルアン利得の電界分布依存性に関する検討
小田友和NTT)・高橋 央NTT東日本)・戸毛邦弘真鍋哲也NTTOFT2018-6
大容量通信システムの実現に向け,モード多重伝送の研究が盛んに行われている.数モードファイバ(FMF)では,モード毎の電界... [more] OFT2018-6
pp.1-4
DC 2018-02-20
16:10
東京 機械振興会館 メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛愛媛大)・佐藤正幸勝 満徳TRL)・関口象一太陽誘電DC2017-87
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multipl... [more] DC2017-87
pp.61-66
LSJ
(共催)
OFT, OCS
(併催) [詳細]
2017-08-31
13:15
北海道 北海道大学 誘導ブリルアン散乱を用いた数モードファイバの片道クロストーク分布測定法
高橋 央鬼頭千尋戸毛邦弘真鍋哲也NTT)・伊藤文彦島根大OFT2017-24
空間多重通信(SDM)の実現に向け,モード多重伝送の研究が盛んに行われている.数モードファイバ(FMF)を用いたSDM伝... [more] OFT2017-24
pp.1-4
LSJ
(共催)
OFT, OCS
(併催) [詳細]
2017-09-01
10:25
北海道 北海道大学 コヒーレント通信用フォトニック結晶部品の開発
川上彰二郎川嶋貴之千葉貴史居城俊和フォトニックラティス)・津田裕之慶大)・高橋 浩上智大OCS2017-30
積層形フォトニック結晶は基板上のパタン設計と積層条件の選択によって波長板,レンズ,偏波分離プリズムなどの機能を実現できる... [more] OCS2017-30
pp.39-44
OFT 2017-05-25
14:30
島根 島根大学(松江キャンパス) 周波数掃引プローブパルスの利用によるBOTDAの簡易化と高速化
鬼頭千尋高橋 央戸毛邦弘真鍋哲也NTTOFT2017-2
近年,構造物のヘルスモニタリングへの応用を目指し,温度や歪の分布測定が可能なブリルアン散乱を利用した光計測技術の研究がな... [more] OFT2017-2
pp.7-10
ICD 2017-04-21
14:15
東京 機械振興会館 [招待講演]A 1/2.3in 20Mpixel 3-Layer Stacked CMOS Image Sensor with DRAM
Tsutomu Haruta・○Tsutomu NakajimaJun HashizumeTaku UmebayashiHiroshi TakahashiKazuo TaniguchiMasami KurodaHiroshi SumihiroKoji EnokiSony Semiconductor Solutions)・Takatsugu YamasakiSony Semiconductor Manufacturing)・Katsuya IkezawaAtsushi KitaharaMasao ZenMasafumi OyamaHiroki KogaSony Semiconductor SolutionsICD2017-18
 [more] ICD2017-18
pp.95-98
DC 2017-02-21
11:35
東京 機械振興会館 論理回路の組込み自己診断に関する提案
香川敬祐矢野郁也王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・大竹哲史大分大DC2016-76
近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィー... [more] DC2016-76
pp.11-16
DC 2017-02-21
16:35
東京 機械振興会館 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ~ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ~
亀山修一愛媛大/富士通)・王 森レイ高橋 寛愛媛大DC2016-83
本稿では製品の品質評価のための回路をLSIやボードに組込む設計手法,評価容易化設計(Design for Evaluat... [more] DC2016-83
pp.53-58
OPE
(共催)
OCS, OFT
(併催) [詳細]
2017-02-17
10:45
大阪 大阪府立大(I-siteなんば) ブリルアン散乱を用いた損失測定のための周波数掃引パルスによる音響波励起過程の検討
高橋 央戸毛邦弘鬼頭千尋真鍋哲也NTTOFT2016-52 OPE2016-169
我々は、分岐光ファイバの損失測定等において、パルス同士のブリルアン散乱を用いた光ファイバ損失測定法を提案している。実線路... [more] OFT2016-52 OPE2016-169
pp.39-44(OFT), pp.49-54(OPE)
IEE-CMN, ITE-BCT
(共催)
OFT, OCS
(併催)
(連催) ※学会内は併催 [詳細]
2016-11-11
13:10
長崎 長崎商工会議所 周波数掃引パルスによるブリルアン散乱を利用した動的歪測定
鬼頭千尋高橋 央戸毛邦弘真鍋哲也NTTOFT2016-32
近年,構造物のヘルスモニタリングへの応用を目指し,高速なブリルアン散乱測定を利用した動的歪測定に関する報告が多数なされて... [more] OFT2016-32
pp.41-44
SCE 2016-04-20
16:10
東京 機械振興会館 高速チューナブル超伝導フィルタ
池内裕章河口民雄塩川教次田中淳也香月理絵高橋 博加屋野博幸東芝SCE2016-8
電体駆動機構を用いて線形な位相変化特性を有する超伝導フィルタの高速チューナブル特性を実現したので報告する.線形な位相変化... [more] SCE2016-8
pp.43-48
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
DC 2016-02-17
15:15
東京 機械振興会館 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-94
 [more] DC2015-94
pp.49-54
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