| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 13:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | テスト圧縮指向ドントケア抽出法 ○若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  VLD2009-62 DC2009-49 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている．それらの問題を解決す... [more] | VLD2009-62 DC2009-49 pp.149-154 |
| DC | 2009-02-16 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ～ BASTアーキテクチャへの適用 ～ ○万 玲玲・若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2008-76 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組み込み自己テストと自動テスト生成を組... [more] | DC2008-76 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 13:00 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法 ○濱崎和光・細川利典（日大） VLD2008-60 DC2008-28 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，縮退故障テスト以外に遷移故障やブリッジ故障に対するテストの要求が高まってきている．... [more] | VLD2008-60 DC2008-28 pp.1-6 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-02 09:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について ○鈴木達也・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平・皆本義弘（JST） |
スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のＩＲドロップを引き起こす可能性が... [more] | VLD2005-76 ICD2005-171 DC2005-53 pp.1-6 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] | CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]