研究会 - すべての研究会開催スケジュール

お知らせ 2023年度・2024年度学生員会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ技術研究報告と和文論文誌Ｃの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について

電子情報通信学会研究会発表申込システム
研究会開催スケジュール

技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ

[Japanese] / [English]

（

研究会名/開催地/テーマ

）→

（

講演検索

検索語: / 範囲:題目著者所属抄録キーワード

）→

すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)

講演検索結果

登録講演（開催プログラムが公開されているもの） （日付・降順）

研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
ICD	2005-12-15 11:20	高知	高知工科大	HSDPAコプロセッサ拡張用スケーラブルバスインタフェース ○竹内俊樹・井倉裕之（NEC）・橋本　剛（NECエレクトロニクス）・津村聡一・西　直樹（NEC）	本稿では，W-CDMAベースバンドプロセッサのHSDPAコプロセッサ拡張用に開発したスケーラブルバスについて報告する．H... [more]	ICD2005-184 pp.7-11
ICD, CPM (共催)	2005-09-08 09:00	東京	機械振興会館	ＦＣＢＧＡパッケージ基板の電気特性～ MLTSと従来ビルドアップ基板の比較～ ○堺　淳・中瀬康一郎（NEC）・本多広一（NECエレクトロニクス）・井上博文（NEC）	全層ビルドアップ基板である超高密度薄型基板(Multi-Layer Thin-Substrate: ＭＬＴＳ)の開発を行... [more]	CPM2005-85 ICD2005-95 pp.1-6
ICD, SDM (共催)	2005-08-18 14:55	北海道	函館国際ホテル	動作時および待機時における電源電圧およびしきい電圧の制御による消費電力最小化のためのモニタリング方式 ○池永佳史・野村昌弘・武田晃一・中澤陽悦（NEC）・相本代志治（NECエレクトロニクス）・萩原靖彦（NEC）	(事前公開アブストラクト) 我々は回路の動作時および待機時において電源電圧VDDとしきい電圧Vthを動的に制御することに... [more]	SDM2005-139 ICD2005-78 pp.67-72
ICD	2005-05-27 11:00	兵庫	神戸大学	オーバーサンプル・エッジイコライズ技術による12Gb/sデュオ・バイナリ伝送 ○山口晃一・須永和久・帰山隼一・根立貴章・高宮　真・野瀬浩一・中川源洋（NEC）・菅原光俊（NECエレクトロニクスアメリカ）・深石宗生（NEC）	符号間干渉を許容することで高速伝送を実現する、デュオ・バイナリ（Duobinary）伝送方式を用いたSerDes伝送技術... [more]	ICD2005-30 pp.13-18
ICD	2005-04-14 09:00	福岡	福岡システムLSI 総合開発センター	低電圧時の安定高速動作を実現するノイズマージンフリーSRAM技術 ○武田晃一・萩原靖彦（NEC）・相本代志治（NECエレクトロニクス）・野村昌弘・中澤陽悦（NEC）・石井利生・小畑弘之（NECエレクトロニクス）	今後の微細化に伴うバラツキの増大によって、SRAMの読み出しノイズマージンと書き込みマージンとが共に減少し、通常の電源電... [more]	ICD2005-1 pp.1-6
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 13:30	東京	機械振興会館	９０ｎｍデバイスのＬＶＰ測定容易性評価とLVP測定用素子の開発 ○野中淳平・和田慎一（NECエレクトロニクス）	90nm以降のプロセスでは、トランジスタサイズがLVPで使用されるレーザ波長の回折限界に到達するため、LVP測定が困難に... [more]	CPM2004-156 ICD2004-201 pp.7-12
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 14:30	東京	機械振興会館	作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザＳＱＵＩＤ顕微鏡による観測 ○酒井哲哉・二川　清（NECエレクトロニクス）	[more]	CPM2004-158 ICD2004-203 pp.19-24
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 16:15	東京	機械振興会館	レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察 ○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行（理研）・二川　清（NECエレクトロニクス）・斗内政吉（阪大）	[more]	CPM2004-160 ICD2004-205 pp.31-34
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 11:15	東京	機械振興会館	RTL故障診断技術の実用化に向けた開発 ○二階堂正人・船津幸永（NECエレクトロニクス）	RTL故障診断として，Assignment Decision Diagram（ADD）を用いて，ADDのノードをBack... [more]	CPM2004-166 ICD2004-211 pp.25-30
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 11:45	東京	機械振興会館	故障診断のための観測性の定量化について ○豊田直哉・梶原誠司・温　暁青（九工大）・真田　克（NECエレクトロニクス）	現在の故障診断は，回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い．しかし，回路の大規模化により，こ... [more]	CPM2004-167 ICD2004-212 pp.31-34
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 16:45	東京	機械振興会館	経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 ○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫（NECエレクトロニクス）	近年の微細化・大規模化の進んだLSIにおいて、CADベースの故障診断技術は、故障解析を容易化できる技術として非常に重要な... [more]	CPM2004-174 ICD2004-219 pp.71-76

[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]

IEICE / 電子情報通信学会