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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2013-02-13 16:40 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法 ○吉見優太（奈良先端大）・畠山一実・大和勇太・米田友和・井上美智子（奈良先端大/JST）  DC2012-90 |
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため，その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] | DC2012-90 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 ○宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） VLD2012-104 DC2012-70 |
テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テスト... [more] | VLD2012-104 DC2012-70 pp.261-266 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 09:00 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル ○志水 昂・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2011-71 DC2011-47 |
LSIのテストを容易にするために，多くのテスト設計・テスト容易化設計(DFT) が提案されている． 本論文では，LSI... [more] |
VLD2011-71 DC2011-47 pp.115-120 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 09:25 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法 ○赤川慎人・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） VLD2011-72 DC2011-48 |
テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の1種にスキャン設計がある．このスキャン設計の1つとし... [more] | VLD2011-72 DC2011-48 pp.121-126 |
| NLP | 2011-11-11 09:10 |
沖縄 | 宮古島マリンターミナル2F研修室 | 文脈木重み付け法を用いた文書分類 ○小畑智広・池上裕之・小林 学・坂下善彦（湘南工科大） NLP2011-110 |
文書分類問題は，ベクトル空間モデルやサポートベクターマシンなど様々な手法により研究されてきた．一方，優れたデータ圧縮法と... [more] | NLP2011-110 pp.103-108 |
| ACT (第二種研究会) |
2008-09-12 14:35 |
神奈川 | 防衛大学校 | タイムドメインとパルス圧縮によるEMI用広帯域アンテナのアンテナ係数測定法 ○黒川 悟・廣瀬雅信（産総研）・永利美緒・森下 久（防衛大） |
本報告では, EMI測定に用いられる広帯域アンテナの自由空間アンテナ係数を求めることを目的として, 時間領域処理とパルス... [more] | |
| ISEC, IT, WBS (共催) |
2008-02-29 11:10 |
東京 | 電気通信大学 | T-Codeを用いた乱数検定手法の構成法について ○濱野健二・山本博資（東大） IT2007-55 ISEC2007-152 WBS2007-86 |
T-Codeを用いた新しい乱数検定手法を提案する． T-Codeは，Mark Titchenerによって1984年に提... [more] |
IT2007-55 ISEC2007-152 WBS2007-86 pp.43-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:05 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法 ○加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） VLD2007-70 DC2007-25 |
本論文では，遅延故障テスト容易化フリップフロップ( 以下FF と略記) 方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する... [more] | VLD2007-70 DC2007-25 pp.1-6 |
| EMCJ | 2005-11-25 14:50 |
東京 | NTT武蔵野研究開発センター | 導電性エラストマーガスケットにおけるシールド特性の検討 ○遠藤史健（太陽金網） |
ＥＭＩ対策用ガスケットは多くの製品に使用されているが、まだその種類の多さに対し選ぶ事が困難となっている。 ここでは、小型... [more] | EMCJ2005-108 pp.11-14 |
| RECONF | 2005-05-12 09:30 |
京都 | 京都大学 | LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について ○佐伯友之・市原英行・井上智生（広島市大） |
製造したLSIの故障を検出するテスト工程において，LSIの大規模化に伴いテストデータサイズの増大という問題が発生している... [more] | RECONF2005-1 pp.1-6 |
| ICD | 2005-04-15 11:30 |
福岡 | 福岡システムLSI 総合開発センター | 高速大容量混載 DRAM Pre-Fuse Wafer-Level テストのための Burst-Cycle Data圧縮方式 ○福田 良・小林謙二（東芝）・赤松正志・開発 実・田村 淳・谷口一雄（ソニー）・渡辺陽二（東芝） |
高速大容量混載DRAM Pre-Fuse Wafer Level テストのためのBurst-Cycle Data 圧縮方... [more] | ICD2005-15 pp.13-17 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について ○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生（広島市大） |
ハフマン符号などの可変長符号を用いたテストデータ圧縮・展開手法は，テスト実行時間の増加およびテスタメモリ不足の問題に対し... [more] | CPM2004-168 ICD2004-213 pp.35-40 |
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