お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (検索条件: すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 5件中 1~5件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
QIT
(第二種研究会)
2021-05-24
15:30
ONLINE オンライン開催 [招待講演]ループ型光量子コンピュータ
武田俊太郎東大
現在,様々な物理系で量子コンピュータの開発が進められている.その中でも,光を用いた量子コンピュータは,室温動作し,通信と... [more]
DC 2018-02-20
09:55
東京 機械振興会館 コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法
竹内勇希武田 俊細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2017-78
VLSIのテストコストを削減するためには,テストパターン数を削減することが必要である.特に動的テスト圧縮の効率を高めるた... [more] DC2017-78
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-06
15:20
熊本 くまもと県民交流館パレア コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法
武田 俊細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大VLD2017-37 DC2017-43
近年, VLSIのテストコスト増大に伴い,DFT設計を用いたテストパターン数削減手法が重要視されている.特に, VLSI... [more] VLD2017-37 DC2017-43
pp.61-66
AI 2014-11-29
14:40
福岡 九州工業大学 サテライト福岡天神11階 アイデア創出の場としてのMOOCの可能性―事例と一考察
武田俊之関西学院大)・重田勝介北大)・森 秀樹阪大AI2014-31
MOOC (Massive Open Online Course) は,高等教育のあり方に影響をもたらすだけではなく,適... [more] AI2014-31
pp.33-38
SCE 2013-10-03
11:55
宮城 東北大学・電気通信研究所 超伝導ナノワイヤ検出器を用いた光子数検出器用単一磁束量子論理デジタル信号処理回路
武田俊亮成瀬雅人田井野 徹・○明連広昭埼玉大)・陳 健呉 培亨南京大SCE2013-34
伝導ナノワイヤ単一光子検出器(Superconducting Nanowire Single Photon Detect... [more] SCE2013-34
pp.83-87
 5件中 1~5件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会