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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: 最近10年)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2021-03-03 10:25 |
ONLINE | オンライン開催 | Evaluation on Approximate Multiplier for CNN Calculation ○Yuechuan Zhang・Masahiro Fujita・Takashi Matsumoto（UTokyo）  VLD2020-68 HWS2020-43 |
畳み込みニューラルネットワーク（CNN）の精度を向上させるには、通常、より大きなハードウェアとより多くのエネルギー消費が... [more] | VLD2020-68 HWS2020-43 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 09:15 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル ○保坂 巧（埼玉大）・西澤真一（福岡大）・岸田 亮（東京理科大）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-35 DC2019-59 |
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性（NBTI）モデルを提案する．提案モデルは反応拡散（tn）およびホールトラッ... [more] | VLD2019-35 DC2019-59 pp.57-62 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:30 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法 ○籔内美智太郎・大島 梓・駒脇拓弥・小林和淑・岸田 亮・古田 潤（京都工繊大）・Pieter Weckx（ルーベン・カトリック大/IMEC）・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小野寺秀俊（京大） VLD2016-52 DC2016-46 |
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] | VLD2016-52 DC2016-46 pp.49-54 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-17 09:40 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 ○大島 梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2015-63 CPSY2015-76 |
[more] | ICD2015-63 CPSY2015-76 pp.1-6 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-17 16:00 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | ［ポスター講演］40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 ○大島 梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） |
[more] | |
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