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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2021-03-03
10:25
ONLINE オンライン開催 Evaluation on Approximate Multiplier for CNN Calculation
Yuechuan ZhangMasahiro FujitaTakashi MatsumotoUTokyoVLD2020-68 HWS2020-43
畳み込みニューラルネットワーク(CNN)の精度を向上させるには、通常、より大きなハードウェアとより多くのエネルギー消費が... [more] VLD2020-68 HWS2020-43
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
09:15
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル
保坂 巧埼玉大)・西澤真一福岡大)・岸田 亮東京理科大)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大VLD2019-35 DC2019-59
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性(NBTI)モデルを提案する.提案モデルは反応拡散(tn)およびホールトラッ... [more] VLD2019-35 DC2019-59
pp.57-62
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
09:40
京都 京都工芸繊維大学 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大ICD2015-63 CPSY2015-76
 [more] ICD2015-63 CPSY2015-76
pp.1-6
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
 [more]
VLD 2014-03-03
13:00
沖縄 沖縄県青年会館 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析
西村彰平松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2013-134
近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシ... [more] VLD2013-134
pp.1-6
VLD 2014-03-03
13:25
沖縄 沖縄県青年会館 CMOSトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズが組合せ回路遅延に及ぼす影響
松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2013-135
 [more] VLD2013-135
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-26
16:00
福岡 九州大学百年講堂 ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響
松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2012-70 DC2012-36
近年のLSI素子の微細化により、NBTIおよび、RTNなどのゲート絶縁膜の信頼性が回路の信頼性に与える影響がますます深刻... [more] VLD2012-70 DC2012-36
pp.63-68
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-29
15:05
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法
松本高士牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大CPM2011-160 ICD2011-92
近年のLSI の微細化により、信頼性の高いシステムを構築することはますます困難となってきている。主要な要因の1つとして、... [more] CPM2011-160 ICD2011-92
pp.59-63
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討
松本高士牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTICD2010-104
本論文において我々は400nsの測定遅延を持つNBTI回復センサー回路を提案した。本回路は多数のユニットセルを含む。1つ... [more] ICD2010-104
pp.55-58
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