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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2022-03-01 10:55 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について ○加藤隆明（九工大）・三宅庸資（プリバテック）・梶原誠司（九工大）  DC2021-67 |
論理回路の経年劣化の問題に対して，フィールドで定期的に遅延測定することが有効である．フィールド測定した遅延値は測定時の温... [more] | DC2021-67 pp.18-23 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| DC | 2018-12-14 13:00 |
沖縄 | 沖縄県立宮古青少年の家 | FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2018-58 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．劣化現象として回路遅延の増加が知られているが，劣化によ... [more] | DC2018-58 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 10:50 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討 ○喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2015-63 DC2015-59 |
フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として，チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミング... [more] | VLD2015-63 DC2015-59 pp.165-170 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 ○王 森レイ・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大） VLD2012-102 DC2012-68 |
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である．スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] | VLD2012-102 DC2012-68 pp.249-254 |
| DC | 2012-06-22 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 論理BISTの電力低減手法と評価 ○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2012-14 |
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが，発生パターンのランダム性から，その制御... [more] | DC2012-14 pp.33-38 |
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