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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, SDM (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2022-08-08 10:00 |
ONLINE | オンライン開催に変更 現地開催(北海道大学百年記念会館)は中止 | ［招待講演］サブミクロン画素CMOSイメージセンサ対応の低ノイズマルチゲート画素トランジスタ ○君塚直彦・北村章太・本庄亮子・馬場公一・黒部利博・熊野秀臣・豊福卓哉（ソニーセミコンダクタソリューションズ）・竹内耕平・西村翔大（ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング）・加藤昭彦・平野智之・大池祐輔（ソニーセミコンダクタソリューションズ）  SDM2022-34 ICD2022-2 |
CMOS イメージセンサ(CIS)の画素のサイズは、モバイル向けの製品からの強い要求により急速な縮小の一途をたどっている... [more] | SDM2022-34 ICD2022-2 p.7 |
| PRMU, IPSJ-CVIM (連催) |
2022-05-13 15:05 |
愛知 | 豊田工業大学 | アニメーションの原画トレースの自動化に関する研究 ○塩谷維織・鹿嶋雅之・福元伸也・渡邊 睦（鹿児島大） PRMU2022-7 |
本論文では絵のクリーンアップを自動で行うシステムを提案する．本システムでは既存のクリーンアップ処理モデルに二値化を用いて... [more] | PRMU2022-7 pp.36-41 |
| MW | 2013-11-22 10:30 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | 直交差動出力6ポートブランチライン型ハイブリッド回路の解析 ○津留正臣・谷口英司（三菱電機） MW2013-143 |
本稿では，低挿入損失かつ簡易な構成でシングルエンドから直交差動波形が得られる6ポートブランチライン型ハイブリッド回路の解... [more] | MW2013-143 pp.69-73 |
| ED | 2011-07-29 16:10 |
新潟 | 長岡技術科学大学マルチメディアシステムセンター | SiNx絶縁ゲートGaAsエッチングナノワイヤFETにおける低周波雑音特性の評価 ○村松 徹・三浦健輔・白鳥悠太・葛西誠也（北大） ED2011-43 |
半導体電界効果トランジスタ（FET）の微細化に伴い素子自身が発する雑音が増大しており，雑音特性の理解と制御が重要になって... [more] | ED2011-43 pp.31-34 |
| SDM | 2010-11-11 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］MOSFETにおけるランダムテレグラフシグナルの統計的評価方法 ○寺本章伸・阿部健一・須川成利・大見忠弘（東北大） SDM2010-174 |
MOSFETにおけるRandom Telegraph Signal (RTS)の振幅，時定数等，重要なパラメータは一つ一... [more] | SDM2010-174 pp.17-22 |
| ED, SDM (共催) |
2010-07-02 12:45 |
東京 | 東工大 大岡山キャンパス | Evaluation of 1/f Noise Characteristics in High-k/Metal Gate and SiON/Poly-Si Gate MOSFET ○Takuya Imamoto・Takeshi Sasaki・Tetsuo Endoh（Tohoku Univ.） ED2010-95 SDM2010-96 |
In this paper, we compare the 1/f noise characteristics of H... [more] | ED2010-95 SDM2010-96 pp.195-198 |
| SDM | 2009-10-29 17:15 |
宮城 | 東北大学 | 大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価 ○藤澤孝文・阿部健一・渡部俊一・宮本直人・寺本章伸・須川成利・大見忠弘（東北大） SDM2009-123 |
MOSFETの微細化，低ノイズデバイス作製のために，RTSノイズを抑制することが必要である．本報告では短時間で多数個のR... [more] | SDM2009-123 pp.31-36 |
| NC, NLP (共催) |
2009-07-13 13:00 |
奈良 | 奈良先端大 | Learning to imitate stochastic time series in a compositional way by chaos ○Jun Namikawa・Jun Tani（RIKEN） NLP2009-18 NC2009-11 |
本稿では、mixture of RNN experts と呼ばれる混合回帰モデルに確率的時系列を学習させることで、複数の... [more] | NLP2009-18 NC2009-11 pp.25-30 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2008-10-23 13:20 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館3F | ［招待講演］微細MOSデバイスのランダム・テレグラフ・シグナル・ノイズ ○須川成利（東北大） ICD2008-75 |
微細MOSデバイスで発生するランダム・テレグラフ・シグナル（RTS）ノイズに関して、大規模アレイTEGを用いて、ゲート絶... [more] | ICD2008-75 pp.95-100 |
| SDM | 2008-10-10 15:15 |
宮城 | 東北大学 | Stress Induced Leakage CurrentとRandom Telegraph Signalノイズとの相関 ○熊谷勇喜・寺本章伸・阿部健一・藤澤孝文・渡部俊一・諏訪智之・宮本直人・須川成利・大見忠弘（東北大） SDM2008-165 |
絶縁膜にFowler-Noldheim（FN）電子注入ストレスを印加した際の、stress induced leakag... [more] | SDM2008-165 pp.57-62 |
| SDM | 2007-10-05 15:50 |
宮城 | 東北大学 | 大規模アレイTEGを用いたランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価 ○阿部健一・須川成利・黒田理人・渡部俊一・寺本章伸・大見忠弘（東北大） SDM2007-192 |
非常に多数のMOSFETについて，それらの電気的特性及びランダム・テレグラフ・シグナル（RTS）特性を短時間で測定可能な... [more] | SDM2007-192 pp.65-68 |
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