Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2009-10
テスト容易な並列プレフィックス加算器の設計手法
○鈴木秀俊・高木直史（名大）
pp. 1 - 6
DC2009-11
SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察
○新井雅之・遠藤辰朗・岩崎一彦（首都大東京）・中尾教伸・鈴木 巌（ルネサステクノロジ）
pp. 7 - 12
DC2009-12
閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察
○出水伸和・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 13 - 18
DC2009-13
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法
樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大）
pp. 19 - 24
DC2009-14
［招待講演］High-level Design for Test Tools & Industrial Design Flows
○Chouki Aktouf（DeFacTo）
pp. 25 - 28
DC2009-15
事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト
○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター）
pp. 29 - 30
DC2009-16
高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法
○野口宏一朗・野瀬浩一（NEC）・尾野年信（NECエレクトロニクス）・水野正之（NEC）
pp. 31 - 34
DC2009-17
システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例
○山元廣志・和田弘樹・小串 亨・中尾教伸（ルネサステクノロジ）
p. 35
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．