Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2011-8
ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察
福本 聡・○新井雅之・原 慎哉・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 1 - 4
DC2011-9
テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について
○深澤祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 5 - 10
DC2011-10
VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察
○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 11 - 16
DC2011-11
［招待講演］国際会議報告：VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium)
○畠山一実（奈良先端大）
pp. 17 - 22
DC2011-12
ケアビット分布制御ドントケア抽出 ～ キャプチャ消費電力削減への適用 ～
○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 23 - 28
DC2011-13
テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト
○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm）
pp. 29 - 34
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．