電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 113, Number 289

信頼性

開催日 2013-11-14 / 発行日 2013-11-07

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目次

R2013-74
故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ~ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ~
○夏原正仁(島津製作所)
pp. 1 - 3

R2013-75
ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定
○長友俊信(DCGシステムズ)
pp. 5 - 9

R2013-76
熱衝撃Snウィスカの成長に及ぼす板状のNi-Sn金属間化合物の影響
○斎藤 彰・岡本 朗・岩堀禎浩・小川 誠(村田製作所)・元木章博(鯖江村田製作所)
pp. 11 - 16

R2013-77
温度サイクル環境起因のSnウィスカ成長一考察
○伊藤貞則(イトケン事務所)
pp. 17 - 20

R2013-78
残存エラー数に基づくソフトウェアのベイズ信頼性解析
○貝瀬 徹(兵庫県立大)
pp. 21 - 24

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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