Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2014-10
バッファ挿入を利用した信号遅延時間計測回路の開発
○山本拓弥・三浦幸也（首都大東京）
pp. 1 - 6
DC2014-11
リング発振器を用いたLSIの劣化推定法
池田龍史・○三浦幸也（首都大東京）
pp. 7 - 14
DC2014-12
低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大）
pp. 15 - 20
DC2014-13
低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価
○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）
pp. 21 - 26
DC2014-14
組込み自己テストのための耐故障応答圧縮器
○深澤祐樹（三重大）・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 27 - 32
DC2014-15
部分二重化を用いた微小誤りを許容するオンライン誤り検出可能な浮動小数点乗算器
○鬼頭信貴（中京大）・秋元一志・高木直史（京大）
pp. 33 - 38
DC2014-16
テスト環境生成結果を用いた階層テスト容易化バインディング法
○西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）
pp. 39 - 44
DC2014-17
機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価
○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）
pp. 45 - 50
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．