Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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VLD2019-29
CGRAのためのアプリケーションマッピングフレームワークGenMapの実装と実機評価
○小島拓也・天野英晴（慶大）
pp. 1 - 6
VLD2019-30
R-GCNを用いたゲートレベルネットリスト機能分類手法
○藤城裕一郎・小山大輝・尼崎太樹・飯田全広（熊本大）・安田紘晃・伊藤寛人（三菱電機エンジニアリング）
pp. 7 - 12
VLD2019-31
Improvement of variational autoencoder based test escape detection through image conversion
Romain Chicoix（Telecom SudParis）・○Michihiro Shintani（NAIST）・Kouichi Kumaki（Renesas Electronics）・Michiko Inoue（NAIST）
pp. 13 - 18
VLD2019-32
A New ATPG-based Logic Optimization Method by Removing the Redundant Multiple Faults
○Peikun Wang・Amir Masaud Gharehbaghi・Masahiro Fujita（The Univ. of Tokyo）
pp. 19 - 22
VLD2019-33
超低電圧向けオンチップリークモニタ型温度センサ回路の提案と評価
○佐藤大介・宇佐美公良（芝浦工大）
pp. 45 - 50
VLD2019-34
MOSFETの統計的選択によるレファレンス不要なCMOS温度センサの設計
○原田彰吾・イスラム マーフズル・久門尚史・和田修己（京大）
pp. 51 - 56
VLD2019-35
単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル
○保坂 巧（埼玉大）・西澤真一（福岡大）・岸田 亮（東京理科大）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）
pp. 57 - 62
VLD2019-36
FiCCを用いたCMOS互換な不揮発性メモリ実現に向けた素子特性測定
○田中一平・宮川尚之・木村知也・今川隆司・越智裕之（立命館大）
pp. 63 - 68
VLD2019-37
ストカスティック計算におけるステップ関数の実装と評価
○石川遼太・多和田雅師・柳澤政生・戸川 望（早大）
pp. 69 - 74
VLD2019-38
［基調講演］エッジディープラーニングアクセラレータによる画像認識
○大渕栄作（ディジタルメディアプロフェッショナル）
pp. 93 - 94
VLD2019-39
［基調講演］VLSI設計が切り拓く知識集約型社会への期待
○中村 宏（東大）
p. 95
VLD2019-40
グリッド分割を用いたイジングモデルによる巡回セールスマン問題の解法
○党 璋・西川剛史・佐藤高史（京大）
pp. 97 - 102
VLD2019-41
イジングモデルによる類似誘導部分グラフ同型問題の解法
○吉村夏一・多和田雅師・田中 宗（早大）・新井淳也・巴 徳瑪・八木哲志・内山寛之（NTT）・戸川 望（早大）
pp. 103 - 108
VLD2019-42
逆正弦・逆余弦計算の高基数CORDICアルゴリズム
○松岡裕志・高木直史（京大）
pp. 109 - 113
VLD2019-43
コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法
○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝（日大）
pp. 133 - 138
VLD2019-44
遅延故障向け組込み自己診断のための圧縮シード生成法
○中野雄太・大竹哲史（大分大）
pp. 139 - 143
VLD2019-45
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘・青野智己・○工藤壮司・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス）
pp. 145 - 150
VLD2019-46
独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成
○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大）
pp. 151 - 155
VLD2019-47
［基調講演］ハードウェアとアルゴリズムの協調最適化によるCNN推論処理の高効率化
○宮下大輔（キオクシア）
p. 173
VLD2019-48
［基調講演］Persistent Memoryの技術動向
○今村智史（富士通研）
p. 175
VLD2019-49
［招待講演］量子回路設計における最適化問題
○山下 茂（立命館大）
p. 177
VLD2019-50
配線領域に余裕がある問題における詳細配線の並列計算の一手法
○四條佑哉・藤吉邦洋（東京農工大）
pp. 179 - 184
VLD2019-51
配線幅および配線間距離を考慮した特徴量によるリソグラフィホットスポット検出
○片岡 岳・稲木雅人・永山 忍・若林真一（広島市大）
pp. 185 - 190
VLD2019-52
ホットスポットテストケースに用いられるデータベースの分析
○小椋弘貴・高橋秀和・佐藤真平・高橋篤司（東工大）
pp. 191 - 196
VLD2019-53
劣勾配法によるプロセスばらつきを考慮したマスク最適化手法
○小平行秀・東 梨奈（会津大）・松井知己・高橋篤司（東工大）・児玉親亮（キオクシア）
pp. 197 - 202
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．