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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, SDM (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2022-08-08 15:20 |
ONLINE | オンライン開催に変更 現地開催(北海道大学百年記念会館)は中止 | フリップチップパッケージングにおける裏面電圧擾乱印加とICチップ応答の評価 ○弘原海拓也・河合航平・長谷川陸宇（神戸大）・村松菊男（e-SYNC）・長谷川 弘・澤田卓也・福島崇仁・金銅 恒（メガチップス）・三木拓司・永田 真（神戸大）  SDM2022-40 ICD2022-8 |
半導体ICの実装技術は小面積化が求められ、フリップチップ実装が一般的となっている。しかし、IC裏面が露出することであらゆ... [more] | SDM2022-40 ICD2022-8 pp.27-30 |
| ICD | 2014-01-28 15:00 |
京都 | 京都大学時計台記念館 | ［ポスター講演］動作環境の動的変動を考慮した動作マージン拡大機能を有する自律制御キャッシュ ○木美雄太・中田洋平・奥村俊介・鄭 晋旭・澤田卓也・利川 托（神戸大）・永田 真（神戸大/JST）・中野博文・藪内 誠・藤原英弘・新居浩二・河合浩行（ルネサス エレクトロニクス）・川口 博（神戸大）・吉本雅彦（神戸大/JST） ICD2013-125 |
車載など誤動作が人命に関わる分野に用いられるプロセッサには高い信頼性が求められる．一方で，プロセッサの高性能化・高集積化... [more] | ICD2013-125 p.59 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:30 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | オンチップ診断機構とDPIを用いたSRAMコアのイミュニティ評価 ○澤田卓也・利川 托・吉川薫平（神戸大）・高田英裕・新居浩二（ルネサス エレクトロニクス）・永田 真（神戸大/JST） CPM2011-165 ICD2011-97 |
[more] | CPM2011-165 ICD2011-97 pp.85-90 |
| ICD | 2010-12-16 15:10 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［ポスター講演］SRAMコアにおける電源/グラウンド雑音の評価 ○利川 托・桝井 翼・澤田卓也・永田 真（神戸大） ICD2010-112 |
SRAMの動作時における電源ノイズを評価するテストチップを90-nm CMOSプロセスにより設計・試作・評価した。本チッ... [more] | ICD2010-112 pp.85-88 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 11:00 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | SRAMコアにおけるオンチップ電源雑音の発生と注入の評価 ○澤田卓也・利川 托・桝井 翼（神戸大）・永田 真（神戸大/JST） CPM2010-125 ICD2010-84 |
SRAMメモリ不良を評価可能なテストチップを試作し，SRAMにおける電源雑音発生を評価，また外乱ノイズを電源へ注入するこ... [more] | CPM2010-125 ICD2010-84 pp.7-12 |
| ICD | 2008-12-11 13:30 |
東京 | 東工大（大岡山）国際交流会館 | ［ポスター講演］デジタルLSIにおける電源ノイズと動作不良の解析手法 ○澤田卓也・永田 真（神戸大） ICD2008-110 |
大規模デジタルLSIにおけるダイナミック電源雑音シミュレーションを行った． シミュレーションには時系列分割寄生容量（T... [more] |
ICD2008-110 pp.47-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-19 10:50 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 容量充電モデルによるプロセッサ電源雑音解析の高速化手法 ○岩佐福一・澤田卓也・深澤光弥・永田 真（神戸大） CPM2008-94 ICD2008-93 |
大規模デジタルプロセッサに対応した，高速な電源雑音解析手法について報告する．容量充電モデルの規模を容量の統計データを用い... [more] | CPM2008-94 ICD2008-93 pp.31-36 |
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