研究会 |
発表日時 |
開催地 |
タイトル・著者 |
抄録 |
資料番号 |
EMCJ |
2024-11-15 08:55 |
海外 |
Kumwell Academy(タイ) (海外(アジア)) |
A Feasibility of Self-Interference Suppression Method in Echo TEMPEST Using Frequency Conversion ○Ryo Nagoshi・Shugo Kaji・Daisuke Fujimoto・Yuichi Hayashi(NAIST) EMCJ2024-70 |
[more] |
EMCJ2024-70 pp.1-4 |
HWS, ICD (共催) |
2024-11-01 13:50 |
青森 |
弘前大学(創立50周年記念会館) (青森県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
ICからのバックスキャッタを用いた経年劣化評価の高速化の検討 ○渡辺 諒・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2024-65 ICD2024-36 |
サプライチェーンの信頼性を脅かすリサイクルICを排除するため、ICの経年劣化を評価する技術が求められており、IC外部から... [more] |
HWS2024-65 ICD2024-36 pp.18-21 |
HWS |
2024-04-19 16:00 |
東京 |
三菱電機(株) 東京ビル26階 ダイヤモンドプラザR (東京都, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(福知山公立大)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2024-4 |
半導体素子の偽造や複製、再利用などのフェイクチップがサプライチェーンの信用を脅かしている。なかでも、廃棄基板などから剥離... [more] |
HWS2024-4 pp.14-17 |
MW, EMCJ, EST (共催) IEE-EMC (連催) [詳細] |
2023-10-19 10:50 |
山形 |
山形大学(米沢市) (山形県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
スイッチングレギュレータからのバックスキャッタリングに着目したサイドチャネル攻撃に関する基礎検討 ○北澤太基・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一(奈良先端大) EMCJ2023-40 MW2023-94 EST2023-67 |
電磁波照射によりアクティブなサイドチャネル攻撃が成立した場合、電磁波解析攻撃 (Electromagnetic anal... [more] |
EMCJ2023-40 MW2023-94 EST2023-67 pp.28-31 |
EMM, BioX, ISEC, SITE, ICSS, HWS (共催) IPSJ-CSEC, IPSJ-SPT (連催) (連催) [詳細] |
2023-07-25 10:20 |
北海道 |
北海道自治労会館 (北海道) |
複数の変調方式を用いた意図的電磁照射により生ずる漏えい音情報の高精度な復元法に関する検討 ○近藤嵩之・北澤太基・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一(奈良先端大) ISEC2023-40 SITE2023-34 BioX2023-43 HWS2023-40 ICSS2023-37 EMM2023-40 |
音声再生デバイスからの電磁波を通じた情報漏えいの脅威が指摘されている。この脅威に対して電磁波を機器の外部から照射すること... [more] |
ISEC2023-40 SITE2023-34 BioX2023-43 HWS2023-40 ICSS2023-37 EMM2023-40 pp.171-175 |
EMCJ, MW, EST (共催) IEE-EMC (連催) [詳細] |
2022-10-14 09:50 |
秋田 |
秋田大学 (秋田県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築 ○高野誠也・鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(福知山公立大)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) EMCJ2022-53 MW2022-99 EST2022-63 |
意図的な電磁妨害時に生じる電磁放射によって機器内部の情報が漏えいする脅威が報告されている。これまで、漏えいを引き起こす要... [more] |
EMCJ2022-53 MW2022-99 EST2022-63 pp.93-96 |
HWS |
2022-04-26 13:30 |
東京 |
産業技術総合研究所 臨海副都心センター(別館) (東京都, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍・太刀掛彩希・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2022-4 |
IC内部の定電流源とA/Dコンバータにより構成された静電容量センサを用いて個体を識別することにより、外部の計測機器を用い... [more] |
HWS2022-4 pp.19-23 |
VLD, HWS (共催) [詳細] |
2022-03-08 16:10 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討 ~ 変調度と放射強度に着目した評価 ~ ○湯川大雅・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一(奈良先端大) VLD2021-103 HWS2021-80 |
情報機器の通信線路上にハードウェアトロイ (Hardware Trojan: HT) を実装することで、電磁情報漏えいを... [more] |
VLD2021-103 HWS2021-80 pp.153-157 |
HWS, ICD (共催) [詳細] |
2021-10-19 14:20 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討 ○西鳥羽 陽・鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(福知山公立大)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2021-48 ICD2021-22 |
機器周辺の接続線路にハードウェアトロージャン(Hardware Trojan, HT)を挿入し、情報漏えいを引き起こす脅... [more] |
HWS2021-48 ICD2021-22 pp.38-42 |
HWS, ICD (共催) [詳細] |
2021-10-19 15:25 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 ○太刀掛彩希・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2021-50 ICD2021-24 |
Physical Unclonable Function (PUF) を用いた個体識別技術は、半導体デバイスやプリント基... [more] |
HWS2021-50 ICD2021-24 pp.49-52 |
EMD |
2021-03-08 16:15 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討 ○上田浩行・鍛治秀伍・藤本大介・キム ヨンウ・林 優一(奈良先端大) EMD2020-37 |
コネクタの摺動や振動により接触表面に摩耗が発生し、接触抵抗が増加することで、信号伝送性能が劣化するなどの悪影響を引き起こ... [more] |
EMD2020-37 pp.40-43 |
EMD |
2020-12-04 15:50 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation ○Hiroyuki Ueda・Shugo Kaji・Youngwoo Kim・Daisuke Fujimoto(NAIST)・Taiki Kitazawa・Takashi Kasuga(NIT,Nagano College))・Yuichi Hayashi(NAIST) EMD2020-24 |
[more] |
EMD2020-24 pp.34-38 |
ICD, HWS (共催) [詳細] |
2020-10-26 09:50 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討 ~ デジタル出力回路のインピーダンス変化に着目した評価 ~ ○鍛治秀伍・藤本大介(奈良先端大)・衣川昌宏(福知山公立大)・林 優一(奈良先端大) HWS2020-27 ICD2020-16 |
機器に対する特定周波数の電磁波の印加により、機器内部の情報を含む漏えい電磁波の放射強度を制御する脅威が報告されている。本... [more] |
HWS2020-27 ICD2020-16 pp.13-17 |
EMCJ |
2020-07-02 15:20 |
ONLINE |
オンライン開催 (オンライン) |
意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価 ○鍛治秀伍・藤本大介・林 優一(奈良先端大) EMCJ2020-15 |
電磁的情報漏えいの脅威は、機器の動作時に非意図的に放射された電磁波に含まれる機器内部の情報取得に焦点が置かれてきた。これ... [more] |
EMCJ2020-15 pp.25-28 |
HWS (第二種研究会) |
2019-12-06 16:00 |
東京 |
浅草橋ヒューリックカンファレンス (東京都) |
[ポスター講演]複数のデータ通信路を有するICから強制的に引き起こされる電磁的情報漏えいに関する検討 ○川上莉穂・鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(仙台高専)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) |
[more] |
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ISEC, SITE, ICSS, EMM, HWS, BioX (共催) IPSJ-CSEC, IPSJ-SPT (共催) (連催) [詳細] |
2019-07-24 09:55 |
高知 |
高知工科大学 (高知県) |
電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(仙台高専)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) ISEC2019-40 SITE2019-34 BioX2019-32 HWS2019-35 ICSS2019-38 EMM2019-43 |
正規に実装された機器の回路が、特定の周波数の電磁波を照射することによりハードウェアトロジャンと同等の動作をし、機器内部に... [more] |
ISEC2019-40 SITE2019-34 BioX2019-32 HWS2019-35 ICSS2019-38 EMM2019-43 pp.235-238 |
HWS |
2019-04-12 15:55 |
宮城 |
東北大学 (宮城県) |
電磁照射による意図的な情報漏えい誘発時に生ずる自己干渉波の抑制に関する基礎検討 ○川上莉穂・鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(仙台高専)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2019-6 |
情報機器から電磁波を介して情報漏えいをする脅威は情報機器の対象となる情報端末の漏えい電磁波の強度と背景雑音の強度の比によ... [more] |
HWS2019-6 pp.31-35 |
HWS, VLD (共催) |
2019-02-28 16:45 |
沖縄 |
沖縄県青年会館 (沖縄県) |
製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(仙台高専)・藤本大介(奈良先端大)・Laurent Sauvage・Jean-Luc Danger(Telecom ParisTech)・林 優一(奈良先端大) VLD2018-120 HWS2018-83 |
電子機器内部のICやその他の素子などの偽造や複製による模造品の流通によって、電子機器の機能や性能が維持・保証できなくなり... [more] |
VLD2018-120 HWS2018-83 pp.163-167 |
EMCJ |
2018-07-27 14:55 |
東京 |
機械振興会館 (東京都) |
ハードウェアトロイを用いた情報通信機器へのデータ注入攻撃に関する基礎検討 ○鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(仙台高専)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) EMCJ2018-30 |
意図的な電磁妨害 (IEMI: Intentional Electromagnetic Interference) に関... [more] |
EMCJ2018-30 pp.49-54 |