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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2023-08-01
16:35
北海道 北海道大学 情報教育館 3F
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
クライオ200nmSOIMOSFETの基板バイアス効果および履歴現象の解析
李 龍聖森 貴之金沢工大)・岡 博史森 貴洋産総研)・井田次郎金沢工大SDM2023-42 ICD2023-21
本稿では、200 nm SOI MOSFETにおいて、極低温下でのみ発生する基板バイアス効果での特異な現象について継続解... [more] SDM2023-42 ICD2023-21
pp.32-35
ISEC 2019-05-17
11:00
東京 機械振興会館 [招待講演]Analysis of Mixed PUF-TRNG Circuit Based on SR-Latches in FD-SOI Technology (from DSD 2018)
Jean-Luc DangerTelecom ParisTech)・○Risa YashiroUEC)・Tarik GrabaYves MathieuAbdelmalek Si-MerabetTelecom ParisTech)・Kazuo SakiyamaUEC)・Noriyuki MiuraMakoto NagataKobe University)・Sylvain GuilleySecure-ICISEC2019-3
本講演では、2018年8月29日から31日にチェコ共和国プラハで開催されたDSD 2018において発表されたJean-L... [more] ISEC2019-3
p.5
QIT
(第二種研究会)
2018-11-26
13:30
東京 東京大学 [ポスター講演]多量子ビット化実現に向けたスケーラブルな積層構造型シリコン量子ビットの提案
伊藤優希小林正治平本俊郎東大
シリコン量子ビットの多量子ビット化に向けて積層構造型シリコン量子ビットを提案する。提案するシリコン量子ビットは量子ビット... [more]
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-29
09:00
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス ランダムばらつきが低減されたプロセスにおける超低電圧条件下でのSTIストレス効果と逆狭チャネル効果による閾値ばらつきの実測
小笠原泰弘小池帆平産総研CPM2016-76 ICD2016-37 IE2016-71
本論文では超低電圧下におけるレイアウト依存性効果に起因する閾値変動効果の影響を実測より示す。65nm SOTB CMOS... [more] CPM2016-76 ICD2016-37 IE2016-71
pp.1-6
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2016-08-02
09:00
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]超低電圧SRAMのソフトエラー耐性
橋本昌宜阪大SDM2016-54 ICD2016-22
本報告では、SRAMのソフトエラー耐性について議論する。特に、ニアスレッショルド回路やサブスレッショルド回路が対象とする... [more] SDM2016-54 ICD2016-22
pp.53-58
ICD 2016-04-14
11:00
東京 機械振興会館 [依頼講演]298-fJ/writecycle 650-fJ/readcycleを実現する画像処理プロセッサ向け28-nm FD-SOI 8T 3ポートSRAM
森 陽紀中川知己北原佑起河本優太高木健太吉本秀輔和泉慎太郎神戸大)・新居浩二ルネサス エレクトロニクス)・川口 博吉本雅彦神戸大ICD2016-3
28-nm FD-SOIプロセス技術を用いた, 低消費電力かつ低電圧な画像処理向け64-kb 8T3ポートSRAMを提案... [more] ICD2016-3
pp.13-16
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
14:55
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価
大島 梓岸田 亮籔内美智太郎小林和淑京都工繊大SDM2014-79 ICD2014-48
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい
る。本研究では, 65nm バルク・S... [more]
SDM2014-79 ICD2014-48
pp.93-98
ICD 2014-01-28
15:00
京都 京都大学時計台記念館 [ポスター講演]28nmFD-SOIを用いた画像処理プロセッサ向け低消費電力SRAM
河本優太吉本秀輔中川知己北原佑起森 陽紀高木健太和泉慎太郎神戸大)・新居浩二ルネサス エレクトロニクス)・川口 博吉本雅彦神戸大ICD2013-116
近年,画像認識技術が車載をはじめ様々な用途に応用されている.高解像度化により入力される画像データ量が増大しているため,デ... [more] ICD2013-116
p.41
ICD 2011-12-16
14:25
大阪 大阪大学会館 チップ間ばらつき及びチップ内ばらつきを抑制する基板バイアス制御回路を備えた0.42-V 576-Kb 0.15-μm FD-SOI 7T/14T SRAM
吉本秀輔山口幸介奥村俊介吉本雅彦川口 博神戸大ICD2011-133
本論文では,チップ内ばらつき及びチップ間ばらつきを抑制する,基板バイアス制御回路を備えた7T/14T SRAMを提案する... [more] ICD2011-133
pp.155-160
SDM, ICD
(共催)
2011-08-26
10:25
富山 富山県民会館 [招待講演]極低電力ロジックデバイス技術の現状と展望
井田次郎金沢工大SDM2011-86 ICD2011-54
ばらまき型センサネットワーク、埋め込み医療デバイスなど、電池レスが必要な極低電力応用が、エネルギー・ハーベスティングの進... [more] SDM2011-86 ICD2011-54
pp.79-83
SANE 2010-10-28
16:00
海外 Ramada Hotel, 済州島(韓国) [招待講演]衛星搭載遠赤外線検出器用極低温電子回路の開発
永田洋久和田武彦池田博一JAXA)・新井康夫高エネルギー加速器研究機構)・大野守史産総研SANE2010-108
We have been developing low power cryogenic readout electron... [more] SANE2010-108
pp.229-234
ICD 2008-12-12
16:10
東京 東工大(大岡山)国際交流会館 チップ間ばらつき補正機能を有する基板バイアス制御を用いた0.42V動作486kb FD-SOI SRAM
山口幸介藤原英弘竹内 隆大竹 優吉本雅彦川口 博神戸大ICD2008-127
本発表では,FD-SOIのチップ間ばらつきを補正できる基板バイアス制御回路を搭載したSRAMの提案を行う.提案する基板バ... [more] ICD2008-127
pp.131-136
ICD 2006-04-13
10:45
大分 大分大学 [特別招待講演]サブ1V DRAM設計技術
河原尊之日立
DRAMのサブ1V動作を実現するための課題といくつかの解決案について述べる。DRAMの低電圧化は困難であり、消費電力、信... [more] ICD2006-4
pp.19-24
EE 2005-07-22
15:40
京都 同志社大学 スイッチドキャパシタタイプ可変段数型DC-DCコンバータを使ったサブ1V電力供給システム
吉田宜史宇都宮文靖セイコーインスツル)・道関隆国NTT
我々の身の回りにあるエネルギーを、バッテリーレス近距離無線システムに有効に利用することができるサブ1V級の電力供給システ... [more] EE2005-30
pp.103-108
ICD 2004-12-16
10:00
広島 広島大学 東広島キャンパス D2G-SOIトランジスタを用いた低電力SoC向けSRAMセル
山岡雅直長田健一伊藤清夫土屋龍太河原尊之日立
FD-SOIの一種であるD2G-SOIというトランジスタ構造を用いて、低電力SoCに最適な2種類のSRAMメモリセルを提... [more] ICD2004-183
pp.1-5
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