Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2012-80
解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装
○向井俊矢・上田健司・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 1 - 6
DC2012-81
SATソルバを用いたテスト生成の高速化手法について
○松永裕介（九大）
pp. 7 - 12
DC2012-82
クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察
○清水貴弘・中山裕太・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 13 - 18
DC2012-83
縮退故障テスト集合と遷移故障テスト集合を用いた欠陥検出能力向上のためのドントケア割当て法
○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 19 - 24
DC2012-84
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
○大栗裕人・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・樋上善信・高橋 寛（愛媛大）
pp. 25 - 30
DC2012-85
隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について
○中村真規・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
pp. 31 - 36
DC2012-86
AES暗号回路におけるトロイ回路設計の影響評価およびその一考察
○荻田英実・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 37 - 42
DC2012-87
テスト応答圧縮器のセキュリティ評価の一手法
○吉村正義・松永裕介（九大）
pp. 43 - 47
DC2012-88
エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法
○松木伸伍・亀井惇平・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 49 - 54
DC2012-89
モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法
○三宅庸資・津森 渉・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京）
pp. 55 - 60
DC2012-90
フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法
○吉見優太（奈良先端大）・畠山一実・大和勇太・米田友和・井上美智子（奈良先端大/JST）
pp. 61 - 66
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．