Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2013-79
モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法
○小松 巡・岩田大志・山口賢一（奈良高専）
pp. 1 - 5
DC2013-80
TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価
○櫻井浩希・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
pp. 7 - 12
DC2013-81
非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法
○水谷早苗・岩田大志・山口賢一（奈良高専）
pp. 13 - 18
DC2013-82
DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法
○小河 亮・岩田大志・山口賢一（奈良高専）
pp. 19 - 24
DC2013-83
SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法
○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 25 - 30
DC2013-84
異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察
○中山裕太（首都大東京）・新井雅之（日大）・史 虹波・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 31 - 36
DC2013-85
最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法
○新谷道広・佐藤高史（京大）
pp. 37 - 42
DC2013-86
メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
○里中沙矢香・岩田大志・山口賢一（奈良高専）
pp. 43 - 48
DC2013-87
BASTにおけるシフトデータ量削減法
○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）
pp. 49 - 54
DC2013-88
BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法
○森 凌太・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
pp. 55 - 60
DC2013-89
マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）
pp. 61 - 66
DC2013-90
Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装
○森 拓馬・大元将一・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 67 - 72
DC2013-91
XMeshプロトコルを用いたワイヤレスセンサーネットワークに対するワームホール攻撃の検出
○蓑原 隆・吉井 碧（拓殖大）
pp. 73 - 78
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．