Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2020-69
FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討
○堤 信吾・三浦幸也（都立大）
pp. 1 - 6
DC2020-70
ランダムばらつきを考慮した電力サイドチャネルの学習によるハードウェアトロイ回路の検出手法
○井上美智子・Riaz-Ul-Haque Mian（奈良先端大）
pp. 7 - 11
DC2020-71
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design
○Ruijun Ma・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Aibin Yan（AHU）・Hui Xu（AUST）
pp. 12 - 17
DC2020-72
メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究
○高藤大輝・星野 龍・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大）
pp. 18 - 23
DC2020-73
CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討
村川 魁・永村美一（都立大）・○新井雅之（日大）・福本 聡（都立大）
pp. 24 - 29
DC2020-74
RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
○浅見竜輝・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）
pp. 30 - 35
DC2020-75
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
○中岡典弘・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス）
pp. 36 - 41
DC2020-76
テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法
○中村健太・石山悠太・細川利典（日大）
pp. 42 - 47
DC2020-77
レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法
○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）
pp. 48 - 53
DC2020-78
CANバス上の単一ビットエラーによるオーバヘッドの考察
佐藤諒平・○北林友樹・福本 聡（都立大）
pp. 54 - 58
DC2020-79
相互依存システムにおける耐性強化問題の高速化
○南出大智・土屋達弘（阪大）
pp. 59 - 63
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．