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シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)  (検索条件: 2015年度)

「from:2015-10-29 to:2015-10-29」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2015-10-29
14:00
宮城 東北大学未来研 [招待講演]イオン注入技術の現状と課題
中島良樹濱本成顕酒井滋樹おの田 博日新イオン機器SDM2015-71
 [more] SDM2015-71
pp.1-6
SDM 2015-10-29
14:50
宮城 東北大学未来研 Ar/H2混合ガス熱処理によるSi表面平坦化プロセスの検討
工藤聡也大見俊一郎東工大SDM2015-72
超高純度Arを用いた高清浄雰囲気における熱処理により、Si表面を原子レベルで平坦化できることが報告されている。本研究では... [more] SDM2015-72
pp.7-12
SDM 2015-10-29
15:20
宮城 東北大学未来研 Xe/H2プラズマを用いたシリコン基板表面の低温平坦化技術
諏訪智之寺本章伸後藤哲也平山昌樹須川成利大見忠弘東北大SDM2015-73
MOSデバイスにおいてゲート絶縁膜とシリコンの界面の平坦性は,デイバス性能および動作信頼性に大きく影響する.近年開発が盛... [more] SDM2015-73
pp.13-16
SDM 2015-10-29
16:00
宮城 東北大学未来研 原子オーダー平坦なゲート絶縁膜/シリコン界面を導入したMOSFETの電気的特性
後藤哲也黒田理人諏訪智之寺本章伸小原俊樹木本大幾須川成利東北大)・鎌田 浩熊谷勇喜渋沢勝彦ラピスセミコンダクタ宮城SDM2015-74
シリコン表面原子オーダー平坦化技術を,テクノロジーノード0.22umのshallow trench isolation ... [more] SDM2015-74
pp.17-22
SDM 2015-10-29
16:30
宮城 東北大学未来研 [招待講演]フラッシュメモリとCMOSロジックの近接混載技術による低消費電力・高速FPGA
財津光一郎辰村光介松本麻里小田聖翔安田心一東芝SDM2015-75
従来のFPGAではメモリとしてSRAMが用いられてきたが,これを不揮発メモリであるフラッシュメモリで置き換えることにより... [more] SDM2015-75
pp.23-28
SDM 2015-10-30
09:30
宮城 東北大学未来研 [招待講演]マイクロ波励起プラズマによる立体構造体への等方均一注入技術
上田博一TEL TDC)・ピーター ベントゼックTEL AMERICA)・岡 正浩小林勇気杉本靖広川上 聡TEL TDCSDM2015-76
Si FIN 構造体へのコンフォーマル砒素ドーピング形成をRLSATMマイクロ波プラズマと650~850度程度の低温熱処... [more] SDM2015-76
pp.29-33
SDM 2015-10-30
10:20
宮城 東北大学未来研 トンネル電流・拡散電流併用MOSFETのデバイスシミュレーション検討
古川貴一寺本章伸黒田理人諏訪智之橋本圭市小尻尚志須川成利東北大SDM2015-77
 [more] SDM2015-77
pp.35-40
SDM 2015-10-30
10:50
宮城 東北大学未来研 酸素ラジカル処理を用いた強誘電体BiFeO3薄膜の形成技術
今泉文伸後藤哲也寺本章伸須川成利東北大SDM2015-78
将来の強誘電体メモリ、センサー、太陽電池に有効であるBiFeO3 (BFO)薄膜を、スパッタリングと酸素ラジカル処理を組... [more] SDM2015-78
pp.41-44
SDM 2015-10-30
13:00
宮城 東北大学未来研 [招待講演]大画面シート型ディスプレイ実現に向けたディスプレイ材料・プロセス技術
藤崎好英NHKSDM2015-79
高臨場感放送メディアの進展,スマートフォンなど情報端末の急速な普及に伴い,いつでもどこでも高品質な映像コンテンツを視聴で... [more] SDM2015-79
pp.45-48
SDM 2015-10-30
13:50
宮城 東北大学未来研 HfO2をゲート絶縁膜に用いたペンタセンOFETのデバイス特性に関する検討
前田康貴劉 野原大見俊一郎東工大SDM2015-80
p型有機半導体として広く知られているペンタセンは下層材料や堆積温度により、グレインの形状が大きく変化することが報告されて... [more] SDM2015-80
pp.49-52
SDM 2015-10-30
14:30
宮城 東北大学未来研 窒素添加LaB6ターゲットによる低仕事関数LaB6スパッタ薄膜の形成
石井秀和東北大)・高橋健太郎住友大阪セメント)・後藤哲也須川成利大見忠弘東北大SDM2015-81
LaB6薄膜をマグネトロンスパッタ法で形成し,その仕事関数を評価した.LaB6薄膜の仕事関数は,LaB6ターゲット中の窒... [more] SDM2015-81
pp.53-56
SDM 2015-10-30
15:00
宮城 東北大学未来研 Investigation of stacked HfN gate insulator formed by ECR plasma sputtering
Nithi AtthiShun-ichiro OhmiTokyo TechSDM2015-82
 [more] SDM2015-82
pp.57-62
SDM 2015-10-30
15:30
宮城 東北大学未来研 高精度ガス制御器を用いたAl2O3のALD成膜におけるプロセス温度の検討
杉田久哉幸田安真諏訪智之黒田理人後藤哲也石井秀和東北大)・山下 哲フジキン)・寺本章伸須川成利大見忠弘東北大SDM2015-83
 [more] SDM2015-83
pp.63-68
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