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電子デバイス研究会 (ED)  (検索条件: 2015年度)

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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ED 2015-07-24
13:15
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) N極性p形GaNショットキー接触の電気的特性の評価
青木俊周福井大)・谷川智之片山竜二松岡隆志東北大)・塩島謙次福井大ED2015-36
N極性p-GaNショットキー接触の電気的特性を、電流‐電圧(I-V)、容量‐電圧(C-V)、光応答(PR)測定を用いて評... [more] ED2015-36
pp.1-4
ED 2015-07-24
13:40
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) n-GaN自立基板の劈開面に形成したショットキーダイオードの評価
永縄 萌青木俊周福井大)・三島友義法政大)・塩島謙次福井大ED2015-37
 [more] ED2015-37
pp.5-8
ED 2015-07-24
14:05
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) リセスゲートAlGaN/GaN-HEMT向け低ダメージドライエッチング
美濃浦優一岡本直哉多木俊裕尾崎史朗牧山剛三鎌田陽一渡部慶二富士通研ED2015-38
 [more] ED2015-38
pp.9-13
ED 2015-07-24
14:30
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) AlN/AlGaN/GaN金属-絶縁体-半導体デバイスにおける低周波ノイズ
鈴木寿一Son Phuong LeTuan Quy NguyenHong-An Shih北陸先端大ED2015-39
 [more] ED2015-39
pp.15-20
ED 2015-07-24
15:10
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) X線光電子分光法によるSiO2/β-Ga2O3界面のバンドアライメント評価
小西敬太上村崇史ワン マンホイNICT)・佐々木公平倉又朗人山腰茂伸タムラ製作所)・東脇正高NICTED2015-40
 [more] ED2015-40
pp.21-24
ED 2015-07-24
15:35
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) SiC MOSFET特性の基板不純物濃度依存性
矢野裕司奈良先端大/筑波大)・結城広登冬木 隆奈良先端大ED2015-41
基板不純物濃度が異なるSi面4H-SiCに対し、ドライ酸化後にNOアニールまたはPOCl3アニールを行って界面特性を改善... [more] ED2015-41
pp.25-29
ED 2015-07-24
16:00
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) 有機強誘電体を用いたMFS型ダイヤモンドFETの形成
柄谷涼太古市浩幹金沢大)・中嶋宇史東京理科大)・徳田規夫・○川江 健金沢大ED2015-42
 [more] ED2015-42
pp.31-34
ED 2015-07-25
10:15
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) In-plane electrical properties of MnAs/InAs/GaAs(111)B heterostructures
Md Earul IslamCong Thanh NguyenMasashi AkaboriJAISTED2015-43
 [more] ED2015-43
pp.35-38
ED 2015-07-25
10:40
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) 再成長ソース・ドレインを有するマルチゲートMOSFETの作製プロセス
木下治紀祢津誠晃三嶋裕一金澤 徹宮本恭幸東工大ED2015-44
次世代の高速・低消費電力デバイスとしてInGaAsチャネルMOSFETが注目されている。さらなる性能向上を目指して、マル... [more] ED2015-44
pp.39-44
ED 2015-07-25
11:05
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) AlInSbステップバッファ層を用いたInSb量子井戸歪緩和構造の電子輸送特性
竹鶴達哉藤川紗千恵原田義彬鈴木浩基磯野恭佑加藤三四郎辻 大介藤代博記東京理科大ED2015-45
MBE法を用いて成長させたGaAs (100) 基板上InSb量子井戸構造の電子輸送特性向上のため、新たなAlInSbバ... [more] ED2015-45
pp.45-49
ED 2015-07-25
11:30
石川 ITビジネスプラザ武蔵研修室1(金沢市武蔵町) 共鳴トンネル素子を用いたΔΣ型歪みセンサ
前澤宏一角谷祐一郎中山大周田近拓巳森 雅之富山大ED2015-46
共鳴トンネルダイオード(RTD)の微分負性抵抗は発振器の基盤であり,これを用いてすでに1THzを越える基本波発振が報告さ... [more] ED2015-46
pp.51-55
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