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研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
ICD, SDM (共催)	2009-07-16 11:25	東京	東工大大岡山キャンパス国際交流会館	レート保証型パケットバッファリング回路の低消費電力化技術 ○財津和也（阪市大）・岩本　久・黒田泰斗・矢野祐二（ルネサステクノロジ）・山本耕次（ルネサスデザイン）・井上一成（ルネサステクノロジ）・阿多信吾・岡　育夫（阪市大） SDM2009-100 ICD2009-16	高速データ転送を保証する高性能ルータの開発において、パケットバッファの動作保証が非常に困難になっている。我々の研究チーム... [more]	SDM2009-100 ICD2009-16 pp.17-22
ICD	2008-12-12 16:35	東京	東工大（大岡山）国際交流会館	[依頼講演] 45nm CMOSにおけるばらつき低減を目的とした基板バイアス制御技術の提案 ○鹿嶋一生・鈴木弘明・栗本昌憲（ルネサステクノロジ）・山中唯生（ルネサスデザイン）・高田英裕（ルネサステクノロジ）・牧野博之（阪工大）・篠原尋史（ルネサステクノロジ） ICD2008-128	微細化プロセスにおけるばらつき抑制を目的としたポストシリコンプログラミング型基板バイアス技術を提案する。提案手法では、ウ... [more]	ICD2008-128 pp.137-142
VLD	2008-09-29 13:30	石川	金沢商工会議所会館	［招待講演］エラー検出FFを用いたDVSにおけるShort Path PenaltyとOR-Tree Latencyの低減手法 ○栗本昌憲・鈴木弘明（ルネサステクノロジ）・秋山　励・山中唯生・大熊晴之（ルネサスデザイン）・高田英裕・篠原尋史（ルネサステクノロジ） VLD2008-47	[more]	VLD2008-47 pp.1-6
ICD, SDM (共催)	2008-07-17 10:30	東京	機械振興会館	プロセスばらつきや温度耐性を向上した45nm SoC向け混載SRAM ○薮内　誠・新居浩二・塚本康正・大林茂樹・今岡　進（ルネサステクノロジ）・山上由展・石倉　聡・寺野登志夫・里見勝治・赤松寛範（松下電器）・篠原尋文（ルネサステクノロジ） SDM2008-131 ICD2008-41	微細化によるランダムばらつき増大によって、SRAMの動作マージンが減少している。これを改善するために、抵抗型リードアシス... [more]	SDM2008-131 ICD2008-41 pp.17-22
ICD, SDM (共催)	2007-08-24 08:55	北海道	北見工業大学	SoCの電源雑音向け微細埋め込み型連続時間雑音検出手法 ○深澤光弥・松野哲郎・植村俊文（神戸大）・秋山　励（ルネサスデザイン）・影本哲哉・牧野博之・高田英裕（ルネサステクノロジ）・永田　真（神戸大） SDM2007-156 ICD2007-84	SoC上の120箇所に分配された微細埋め込み型雑音検出回路は，電源雑音の連続時間モニタリングを可能にし，SoC内部の電源... [more]	SDM2007-156 ICD2007-84 pp.85-90
ICD, ITE-IST (共催)	2007-07-27 11:10	兵庫	神戸大学瀧川記念学術交流会館	磁界結合パルス伝送方式によるLSIロジックモニター用のフレキシブル高速無線インターフェース ○石黒仁揮（慶大）・菅原俊彦・高畑洋一（ルネサスソリューションズ）・岩田俊一（ルネサステクノロジ）・滝川　浩（ルネサスデザイン）・黒田忠広（慶大） ICD2007-60	磁界結合パルス伝送方式を用いて、LSIパッケージに封止されたチップの動作を外部からモニターできる着脱可能な高速無線インタ... [more]	ICD2007-60 pp.135-140
ICD	2007-04-12 10:00	大分	大分県・湯布院・七色の風	セルフリファレンスセンスアンプを用いた高密度1T-4MTJ MRAM ○村井泰光・谷崎弘晃（ルネサスデザイン）・辻　高晴・大谷　順・山口雄一郎・古田陽雄・上野修一・大石　司・林越正紀・日高秀人（ルネサステクノロジ） ICD2007-3	1T-4MTJ(1-Transistor 4-Magnetic Tunnel Junction)という高密度なMRAM(... [more]	ICD2007-3 pp.13-16
ICD	2007-04-13 09:40	大分	大分県・湯布院・七色の風	［招待講演］A 65 nm Embedded SRAM with Wafer Level Burn-In Mode, Leak-Bit Redundancy and E-trim Fuse for Known Good Die ○Shigeki Ohbayashi・Makoto Yabuuchi・Kazushi Kono（Renesas Technology）・Yuji Oda（Shikino High-Tech）・Susumu Imaoka（Renesas Design）・Keiichi Usui（Daioh Electric）・Toshiaki Yonezu・Takeshi Iwamoto・Koji Nii・Yasumasa Tsukamoto・Masashi Arakawa・Takahiro Uchida・Hiroshi Makino・Koichiro Ishibashi・Hirofumi Shinohara（Renesas Technology） ICD2007-11	[more]	ICD2007-11 pp.59-64
VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細]	2006-11-29 13:30	福岡	北九州国際会議場	［特別講演］SystemVerilogチュートリアル ○浜口加寿美（松下電器）・明石貴昭（日本シノプシス）・湯井丈晴（沖ネットワークエルエスアイ）・後藤謙治（日本ケイデンス・デザイン・システムズ）・岡本実幸（三洋半導体）・杉浦正志（図研）・土屋丈彦（東芝）・千綿幸雄（富士通）・竹田津弘州（松下電器）・李　健道（メンター・グラフィックス・ジャパン）・高嶺美夫（ルネサステクノロジ）	[more]	VLD2006-66 DC2006-53 RECONF2006-38 pp.1-13
ICD, SDM (共催)	2006-08-18 12:05	北海道	北海道大学	超高集積を実現した65nmテクノロジのSoC向けデュアルポートSRAMの開発 ○今岡　進（ルネサスデザイン）・新居浩二（ルネサステクノロジ）・増田康浩（ルネサスデザイン）・薮内　誠・塚本康正・大林茂樹・五十嵐元繁・冨田和朗・坪井信生・牧野博之・石橋孝一郎・篠原尋史（ルネサステクノロジ）	65nmテクノロジを適用した高密度の8T-dual-port(DP)-SRAMを開発した。プライオリティー行デコーダとビ... [more]	SDM2006-148 ICD2006-102 pp.133-136
ICD, SDM (共催)	2006-08-18 14:35	北海道	北海道大学	65nm混載SRAMでの動作マージン改善回路 ○薮内　誠・大林茂樹・新居浩二・塚本康正（ルネサステクノロジ）・今岡　進（ルネサスデザイン）・五十嵐元繁・竹内雅彦・川島　光・牧野博之・山口泰男・塚本和宏・犬石昌秀・石橋孝一郎・篠原尋史（ルネサステクノロジ）	[more]	SDM2006-151 ICD2006-105 pp.149-153
ICD	2006-04-14 13:50	大分	大分大学	局所的な閾値電圧ばらつきに対するSRAM安定動作解析手法について ○塚本康正・新居浩二（ルネサステクノロジ）・今岡　進（ルネサスデザイン）・小田祐士（シキノハイテック）・大林茂樹・薮内　誠・牧野博之・石橋孝一郎・篠原尋史（ルネサステクノロジ）	[more]	ICD2006-18 pp.97-102
ICD	2005-04-15 10:30	福岡	福岡システムLSI 総合開発センター	低電圧・高速動作を実現した1.2V単一動作の130nm混載向け1Mbit MRAMコア ○辻　高晴（ルネサステクノロジ）・谷崎弘晃（ルネサスデバイスデザイン）・石川正敏・大谷　順・山口雄一郎・上野修一・大石　司・日高秀人（ルネサステクノロジ）	MRAM (Magnetic Random Access Memory) は無制限の書き換え／読み出し回数による高信頼性... [more]	ICD2005-13 pp.1-6

著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

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