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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2024-01-31
15:50
東京 金沢工業大学大学院 虎ノ門キャンパス
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[招待講演]HfZrO2系強誘電体FETを用いた物理リザバーコンピューティング
高木信一トープラサートポン カシディット名幸瑛心鈴木陸央閔 信義竹中 充中根了昌東大SDM2023-80
高いエネルギー効率をもつエッジAI計算への応用に向けて、強誘電体HfZrO2/Si FeFETを用いた物理リザバーコンピ... [more] SDM2023-80
pp.24-27
CPM 2020-10-29
16:40
ONLINE オンライン開催 抵抗変化メモリに適用可能なZrO2膜の低温作製
佐藤 勝川合祐貴向井高幸武山真弓北見工大CPM2020-21
抵抗変化メモリに適用可能な絶縁膜を形成するために、我々は、ZrO2膜の低温作製を行ってきた。本研究で得られたZrO2膜は... [more] CPM2020-21
pp.38-40
SDM 2017-10-26
10:50
宮城 東北大学未来研 ZrO2シード層がHfxZr1-xO2薄膜の強誘電性へ及ぼす効果
女屋 崇明大/物質・材料研究機構)・生田目俊秀物質・材料研究機構/JST)・澤本直美明大)・大井暁彦池田直樹知京豊裕物質・材料研究機構)・小椋厚志明大SDM2017-57
本研究では、TiN下部電極と強誘電体HfxZr1-xO2 (HZO)薄膜の間に原子層堆積法を用いて成膜したZrO2膜をシ... [more] SDM2017-57
pp.39-44
ED 2017-04-20
13:30
宮城 東北大学電気通信研究所 本館 6階 大会議室 ZrO2界面修飾による色素増感太陽電池の高効率化
野口雄祐鹿又健作三浦正範有馬 ボシール アハンマド久保田 繁廣瀬文彦山形大ED2017-1
色素増感太陽電池で高い発電効率を得るには、TiO_2電極表面の色素吸着量の増加、TiO_2電極と電解液間における電子の再... [more] ED2017-1
pp.1-4
SDM 2016-06-29
11:55
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 ZrO2/Al2O3/ZrO2多層を用いたDRAMキャパシタにおけるAl2O3層が電気特性に及ぼす効果
女屋 崇明大/物質・材料研究機構)・生田目俊秀澤田朋実物質・材料研究機構/JST)・栗島一徳明大/物質・材料研究機構)・澤本直美明大)・大井暁彦知京豊裕物質・材料研究機構)・小椋厚志明大SDM2016-37
本研究では、原子層堆積法によって作製したZrO2/Al2O3/ZrO2 (ZAZ)多層絶縁膜を用いたTiN/ZAZ/Ti... [more] SDM2016-37
pp.27-32
OFT 2014-10-23
13:25
兵庫 三宮コンベンションセンター ZrO2-SiO2系超高ΔPLCデバイスの開発
内田泰芳山﨑慎太郎高橋正典長谷川淳一八木 健古河電工OFT2014-24
現在、平面光導波路(Planar lightwave circuit : PLC)には小型化、高密度集積化などが求められ... [more] OFT2014-24
pp.7-12
CPM, LQE, ED
(共催)
2013-11-29
15:50
大阪 大阪大学 吹田キャンパス ZrO2/Al2O3積層膜をゲート絶縁膜に用いたn-GaN MISダイオードの界面特性
樹神真太郎徳田博邦葛原正明福井大ED2013-87 CPM2013-146 LQE2013-122
原子層堆積(ALD)法によりZrO2/Al2O3積層膜を堆積させ、この膜をゲート絶縁膜に用いたn-GaN MISダイオー... [more] ED2013-87 CPM2013-146 LQE2013-122
pp.107-112
ICD 2008-04-17
13:05
東京 機械振興会館 [招待講演]コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM技術
白井浩樹石川亮佑伊藤雄一北村卓也竹内麻美佐甲 隆井上 顕川崎 澄勝木信幸星崎博之桑原愼一夏目秀隆坂尾眞人谷川高穂NECエレクトロニクスICD2008-4
コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM デバイス技術について報告する。我々は150nm 世代より低消費電力かつ高速... [more] ICD2008-4
pp.19-24
OPE 2007-12-14
14:15
東京 機械振興会館 異種材料フェルール間PC接続の信頼性
三田地成幸東京工科大
Fiber to the home において広く用いられている光コネクタの低価格化に向け、構成部品における主なコスト要因... [more] OPE2007-138
pp.15-20
CPM 2007-11-16
15:35
新潟 長岡技術科学大学 ガスフロースパッタ法で作製されたZrO2膜をバッファ層として用いたNiCr薄膜抵抗の抵抗温度係数
岩坪 聡富山県工技センターCPM2007-110
ZrO2膜をNiCr膜と基板との熱ひずみのバッファ層として用いた場合のNiCr抵抗体の抵抗温度係数(Temperatur... [more] CPM2007-110
pp.29-34
ICD 2007-04-12
10:40
大分 大分県・湯布院・七色の風 MIM(Metal-Insulator-Metal) キャパシタを用いた混載DRAM用デバイステクノロジー
谷川高穂山縣保司白井浩樹杉村啓世和気智子井上 顕佐甲 隆坂尾眞人NECエレクトロニクスICD2007-4
MIMキャパシタを用いた混載DRAMデバイス技術について報告する。我々は150nm世代よりLowパワーかつ高速アクセス性... [more] ICD2007-4
pp.17-22
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